Вышедшие номера
Home » Физика твердого тела » Год 2014, выпуск 9 » Статья стр. 1851
<<<>>>
Фотоэмиссионная электронная микроскопия массивов субмикронных столбиков никеля в матрице диоксида кремния
Турищев С.Ю.1, Паринова Е.В.1, Кронаст Ф.2, Овсянников Р.2, Малащенок Н.В.3, Стрельцов Е.А.3, Иванов Д.К.3, Федотов А.К.3
1Воронежский государственный университет, Воронеж, Россия
2Гельмгольц-центр Берлин, Берлин, Германия
3Белорусский государственный университет, Минск, Республика Беларусь
Email: tsu@phys.vsu.ru
Поступила в редакцию: 14 марта 2014 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2014 г.
PDF версия
Методом фотоэмиссионной электронной микроскопии с использованием высокоинтенсивного синхротронного (ондуляторного) излучения исследовались массивы столбиков Ni диаметром ~500 nm, сформированные при сочетании ионно-трековой технологии и электрохимического осаждения в матрицу SiO2 на поверхности пластин монокристаллического кремния. Анализ Ni L2,3-спектров ближней тонкой структуры края рентгеновского поглощения показывает, что столбики в порах, а также соединительные перегородки между ними образованы фазой металлического никеля, который устойчив к процессам окисления атмосферным кислородом воздуха. На гетерогранице Ni/SiO2 не происходит образования фаз промежуточных соединений (силицидов и оксидов никеля), в то время как на поверхности SiO2-матрицы регистрируются окисленные формы Ni(II), которые предположительно можно связать с его силикатными и гидроксидными соединениями, образующимися в результате процессов хемосорбции Ni(II) в электролитах электрохимического осаждения. Работа выполнена при поддержке РФФИ (грант N 12-02-31702).
  1. Y. Imry. In: Nanostructures and mesoscopic systems/ Eds W.P. Kirk, M.A. Reed. Academic, NY (1992). P. 11
  2. H. Shang, G. Cao. In: Springer handbook of nanotechnology / Ed. B. Brushan. Springer, Berlin (2007). P. 161
  3. D. Fink, D. Sinha, J. Opitz-Coutureau, A.V. Petrov, S.E. Demyanov, W.R. Fahrner, K. Hoppe, A.K. Fedotov, L.T. Chadderton, A.S. Berdinsky. In: Physics, chemistry and application of nanostructures (Reviews and short notes to nanomeeting-2005)/ Eds V.E. Borisenko, S.V. Gaponenko, V.S. Gurin. World Scientific, Singapore (2005). P. 474
  4. J. Fedotova, D. Ivanou, Y. Ivanova, A. Fedotov, A. Mazanik, I. Svito, E. Streltsov, A. Saad, S. Tyutyunnikov, T.N. Koltunowicz, S. Demyanov, V. Fedotova. Acta Phys. Pol. A 120, 133 (2011)
  5. Yu.A. Ivanova, D.K. Ivanou, A.K. Fedotov, E.A. Streltsov, S.E. Demyanov, A.V. Petrov, E.Yu. Kaniukov, D. Fink. J. Mater. Sci. 42, 9163 (2007)
  6. O. Seifarth, R. Krenek, I. Tokarev, Y. Burkov, A. Sidorenko, S. Minko, M. Stamm, D. Schmeiser. Thin Solid Films 515, 16, 6552 (2007)
  7. J. Stohr. NEXAFS spectroscopy. Springer, Berlin (1996). 403 p
  8. S. Hufner. Very high resolution photoelectron spectroscopy. Springer, Berlin (2007). 409 p
  9. E.P. Domashevskaya, Yu.A. Yurakov, S.V. Ryabtsev, O.A. Chuvenkova, V.M. Kashkarov, S.Yu. Turishchev. J. Electron Spectroscopy Related Phenom. 156-158, 340 (2007)
  10. V.A. Terekhov, S.Yu. Turishchev, K.N. Pankov, I.E. Zanin, E.P. Domashevskaya, D.I. Tetelbaum, A.N. Mikhailov, A.I. Belov, D.E. Nikolichev, S.Yu. Zubkov. Surf. Interface Analys. 42, 891 (2010)
  11. Э.П. Домашевская, В.А. Терехов, С.Ю. Турищев, Д.А. Коюда, Н.А. Румянцева, Ю.П. Першин, В.В. Кондратенко, N. Appathurai. ФТТ 55, 3, 577 (2013)
  12. Э.П. Домашевская, С.А. Сторожилов, С.Ю. Турищев, В.М. Кашкаров, В.А. Терехов, О.В. Стогней, Ю.Е. Калинин, А.В. Ситников, С.Л. Молодцов. ФТТ 50, 1, 135 (2008)
  13. Э.П. Домашевская, А.В. Чернышев, С.Ю. Турищев, Ю.Е. Калинин, А.В. Ситников, Д.Е. Марченко. ФТТ 55, 6, 1202 (2013)
  14. D.K. Ivanou, Е.A. Streltsov, A.K. Fedotov, A.V. Mazanik, D. Fink, A. Petrov. Thin Solid Films 490, 2, 154 (2005)
  15. Yu.A. Ivanova, D.K. Ivanou, E.A. Streltsov, A.K. Fedotov. Mater. Sci. Eng. B 147, 2-3, 271 (2008)
  16. С.Ю. Турищев, Е.В. Паринова, Ю.А. Федотова, А.В. Мазаник, А.К. Федотов, П.Ю. Апель. Конденсированные среды и межфазные границы 15, 1, 54 (2013)
  17. Рентгеновская оптика и микроскопия/ Под ред. Г. Шмаля, Д. Рудольфа. Пер. с англ. Мир, М. (1987). 464 с
  18. Т.М. Зимкина, В.А. Фомичев. Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия. Изд-во ЛГУ, Л. (1971). 132 c
  19. http://www.alfa.com
  20. www.chempur.de
  21. T.J. Regan, H. Ohldag, C. Stamm, F. Nolting, J. Luning, J. Stohr, R.L. White. Phys. Rev. B 64, 214 422 (2001)
  22. L.A. Montoro, M. Abbate, E.C. Almeida, J.M. Rosolen. Chem. Phys. Lett. 309, 14 (1999)
  23. S.J. Naftel, I. Coulthard, T.K. Sham, D.-X. Xu, L. Erickson, S.R. Das. Appl. Phys. Lett. 74, 19, 2893 (1999)
  24. K. Amemiya, E. Sakai, D. Matsumura, H. Abe, T. Ohta. Phys. Rev. B 72, 201 404 (R) (2005)
  25. P. Burattin, M. Che, C. Louis. J. Phys. Chem. B 103, 6171 (1999).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme