Физика твердого тела
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Исследование резистивного переключения вертикально ориентированной углеродной нанотрубки методами сканирующей зондовой микроскопии
1Южный федеральный университет, Институт нанотехнологий, электроники и приборостроения, Таганрог, Россия 
Email: ageev@sfedu.ru
Поступила в редакцию: 10 сентября 2014 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2015 г.
Представлены результаты экспериментальных исследований методами сканирующей зондовой микроскопии влияния внешнего электрического поля на электромеханические свойства и закономерности резистивного переключения вертикально ориентированной углеродной нанотрубки (ВОУНТ). Показано, что отношение сопротивлений ВОУНТ в высокоомном и низкоомном состояниях превышает 25 при расстоянии между зондом сканирующего туннельного микроскопа и ВОУНТ 1 nm и напряжении 8 V, и зависит от величины напряжения, прикладываемого между зондом и ВОУНТ. Предложен механизм резистивного переключения ВОУНТ, основанный на мгновенной деформации и возникновении внутреннего электрического поля ВОУНТ в результате резкого изменения производной напряженности внешнего электрического поля по времени. Полученные результаты могут быть использованы при разработке и создании элементов резистивной энергоэффективной памяти с высокой плотностью ячеек на основе вертикально ориентированных углеродных нанотрубок. Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ в рамках проектной части госзадания в сфере научной деятельности (задание 16.1154.2014/К).
- L. Chua. Proc. IEEE 91, 1830 (2003)
- K.S. Vasu, S. Sampath, A.K. Sood. Solid State Commun. 151, 1084 (2011)
- A. Beck, J.G. Bednorz, Ch. Gerber, C. Rossel, D. Widmer. Appl. Phys. Lett. 77, 1, 139 (2000)
- S. Seo, M.J. Lee. Appl. Phys. Lett. 85, 23, 5655 (2004)
- В.И. Авилов, О.А. Агеев, А.С. Коломийцев, Б.Г. Коноплев, В.А. Смирнов, О.Г. Цуканова. Изв. вузов. Электроника 2, 106, 50 (2014)
- T.H. Kim, E.Y. Jang, N.J. Lee, D.J. Choi, K.J. Lee, J. Jang, J.S. Choi. Nano Lett. 9, 2229 (2009)
- J. Yao, J. Zhong, L. Zhong, D. Natelson, J.M. Tour. Am. Chem. Soc. 3, 12, 4122 (2009)
- Y. Dong, G. Yu, M.C. McAlpine, W. Lu, C.M. Lieber. Nano Lett. 8, 2, 386, (2008)
- M. Meyyappan. J. Phys. D 42 213 001 (2009)
- О.А. Агеев, О.И. Ильин, В.С. Климин, Б.Г. Коноплев, А.А. Федотов. Хим. физика и мезоскопия 13, 2, 226 (2011)
- О.А. Агеев, Ю.Ф. Блинов, О.И. Ильин, А.С. Коломийцев, Б.Г. Коноплев, М.В. Рубашкина, В.А. Смирнов, А.А. Федотов. ЖТФ 83, 12, 128 (2013)
- A.D. Bartolomeo, A. Scarfato, F. Giubileo, F. Bobba, M. Biasiucci, A.M. Cucolo, S. Santucci, M. Passacantando. Carbon 45, 2957 (2007)
- J.-M. Bonard, Ch. Klinke. Phys. Rev. B, 67, 115 406, (2003)
- B. Kozinsky, N. Marzari. Phys. Rev. Lett. 96, 166 801 (2006)
- S.L. Konsek, R.J.N. Coope, T.P. Pearsall, T. Tiedje. Appl. Phys. Lett. 70, 1846 (1997)
- О.А. Агеев, О.И. Ильин, А.С. Коломийцев, Б.Г. Коноплев, М.В. Рубашкина, В.А. Смирнов, А.А. Федотов. Рос. нанотехнологии 7, 1--2, 54 (2012)
- Y. Gao, Z.L. Wang. Nano Lett. 7, 8, 2499 (2007)
- В. Головнин, И. Каплунов, О. Малышкина, Б. Педько, А. Мовчикова. Физические основы, методы исследования и практическое применение пьезоматериалов. Техносфера, M. (2013). C. 118
- B. Liu, H. Jiang, H.T. Johnson, Y. Huang. J. Mech. Phys. Solid 52, 1 (2004)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
