Вышедшие номера
Гексагональные двумерные слои соединений ANB8-N на полупроводниках
Давыдов С.Ю.1,2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
Email: Sergei_Davydov@mail.ru
Поступила в редакцию: 17 ноября 2015 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2016 г.

С использованием параболической модели электронного спектра подложки и низкоэнергетической аппроксимации закона дисперсии для двумерных гексагональных соединений ANB8-N исследована зависимость плотности состояний эпитаксиального слоя от величины запрещенной зоны субстрата и ширины щели графеноподобного соединения (ГПС) в свободном состоянии, их взаиморасположения и безразмерной константы связи слой-подложка C. Показано, что при превышении константой C определенных критических значений плотность состояний эпитаксиального слоя испытывает качественные изменения. Рассматривались как плоские, так и измятые эпитаксиальные слои. Приведены оценки перераспределения заряда при трансформации плотности состояний ГПС.