Влияние размерности поликристаллической пленки и оптической анизотропии кристаллитов на эффективную диэлектрическую проницаемость пленки
Поступила в редакцию: 29 декабря 2015 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2016 г.
Показано сильное влияние размерности D поликристаллической пленки и анизотропии m = varepsilonz/varepsilonx одноосных кристаллитов с главными компонентами varepsilonx =varepsilon y, varepsilonz тензора диэлектрической проницаемости на эффективную диэлектрическую проницаемость varepsilonD* и показатель преломления nD*= (varepsilonD*)1/2 пленки в оптической области прозрачности, а также на границы интервалов BDl≤varepsilonD*≤ BDu. Интервалы Delta2(m)= B2l - B2u и Delta3(m) = B3l- B3u разделены щелью при 1 < m < 2, а теоретическая зависимость varepsilon2*(m) отделена щелью от интервала Delta3(m) при 1 < m <4. Это подтверждено сравнением экспериментальных (noP) и теоретических (n2*) значений обыкновенного показателя преломления для одноосных поликристаллических пленок сопряженного полимера PPV с одноосными кристаллитами и подходящими значениями m. В видимой области прозрачности пленок PPV при изменении m(lambda) в интервале 2 < m(lambda) < 3 за счет зависимости компонент varepsilonx,z(lambda) от длины световой волны lambda значения noP2(lambda) = varepsilonoP(lambda) согласуются с теоретическими varepsilon2*(lambda) и лежат вне интервала Delta3(m). При m(lambda) > 3 вблизи полосы электронного поглощения кристаллитов значения varepsilonoP(lambda) лежат в области перекрытия интервалов Delta2(m) и Delta3(m). Установлены границы mc областей 1 < m <mc, для которых интервал Delta2(m) отделен щелью от зависимостей varepsilon3*(m), отвечающих теории эффективной среды со сферическими кристаллитами и иерархическим моделям поликристалла, а также от предложенной новой зависимости varepsilon3*(m).
- M.K. Debe. J. Vac. Technol. A 10, 2816 (1992)
- M.I. Alonso, M. Garriga, J.O. Osso, F. Schreiber, E. Barrena, H. Dosch. J. Chem. Phys. 119, 6335 (2003)
- S.Y. Yang, F. Hide, M.A. Diaz-Garcia, A.J. Heeger, Y. Cao. Polymer 39, 2299 (1998)
- M. Knaapila, R. Stepanyan, B.P. Lyons, M. Torkkelli, A.P. Monkman. Adv. Funct. Mater. 16, 599 (2006)
- B. Watts, T. Schuettfort, C.R. Mac Neil. Adv. Funct. Mater. 21, 1122 (2011)
- M. Bai, A.V. Sorokin, D.W. Tompson, M. Poulsen, S. Ducharme, C.M. Herzinger, S. Palto, V.M. Fridkin, S.G. Yudin, V.E. Savchenko, L.K. Gribova. J. Appl. Phys. 95, 3372 (2004)
- M. Campoy-Quiles, M.I. Alonso, D.D.C. Bradley, L.J. Richter. Adv. Funct. Mater. 24, 2116 (2014)
- R. Burzynski, P.N. Prasad, F.E. Karasz. Polymer 31, 627 (1990)
- W.M.V. Wan, N.C. Greenham, R.H. Friend. J. Appl. Phys. 87, 2542 (2000)
- Е.М. Аверьянов. Письма в ЖЭТФ 91, 501 (2010)
- Е.М. Аверьянов. ФТТ 53, 1832 (2011)
- Е.М. Аверьянов. Письма в ЖЭТФ 99, 679 (2014)
- M. Campoy-Quiles, P.G. Etchegoin, D.D.C. Bradley. Phys. Rev. B 72, 045 209 (2005)
- Z. Hashin, S. Shtrikman. Phys. Rev. 130, 129 (1963)
- A. Sihvola. Electromagnetic mixing formulas and applications. The institution of engineering and applications. London (2008). 284 p
- Е.М. Аверьянов. Письма в ЖЭТФ 101, 761 (2015)
- В.И. Оделевский. ЖТФ 21, 1379 (1951)
- D. Stroud. Phys. Rev. B 12, 3368 (1975)
- M.W.M. Willemse, W.J. Caspers. J. Math. Phys. 20, 1824 (1979)
- J. Helsing, A. Helte. J. Appl. Phys. 69, 3583 (1991)
- K. Schulgasser. J. Appl. Phys. 47, 1880 (1976)
- K. Schulgasser. J. Phys. C 10, 407 (1977)
- А.Е. Морозовский, А.А. Снарский. УФЖ 28, 1203 (1983)
- Е.М. Аверьянов. ФТТ 58, 154 (2016)
- J. Swiatkiewicz, P.N. Prasad, F.E. Karasz. J. Appl. Phys. 74, 525 (1993)
- C. Soci, D. Comoretto, F. Marabelli, D. Moses. Phys. Rev. B 75, 075 204 (2007)
- M. Galli, F. Marabelli, D. Comoretto. Appl. Phys. Lett. 86, 201 119 (2005)
- G.D. Scholes, G. Rumbles. Nature Mater. 5, 683 (2006)
- M. Grell, D.D.C. Bradley, G. Ungar, J. Hill, K. Whitehead. Macromolecules 32, 5810 (1999)
- M. Grell, D.D.C. Bradley, X. Long, T. Chamberlain, M. Imbasekaran, E.P. Woo, M. Soliman, Acta Polym. 49, 439 (1998)
- A.E. Grishchenko, E.I. Rjumtsev, V.K. Turkov. J. Opt. Technol. 64, 424 (1997)
- А.Е. Грищенко, А.Н. Черкасов. УФН 167, 269 (1997)
- D. Chen, M.J. Vinokur, M.A. Masse, F. Karasz. Polymer 33, 3116 (1992)
- H.V. Shah, J.I. Scheinbeim, G.A. Arbuckle. J. Polym. Sci. B 37, 605 (1999)
- C.Y. Yang, K. Lee, A.J. Heeger. J. Mol. Struct. 521, 315 (2000)
- E.M. Aver'yanov. J. Opt. Technol. 64, 417 (1997)
- C. Soci, D. Comoretto, F. Marabelli, D. Moses. Proc. SPIE. 5517, 98 (2004)
- W.M.V. Wan, R.H. Friend, N.C. Greenham, Thin Solid Films 363, 310 (2000)
- И.М. Лифшиц, М.И. Каганов, В.М. Цукерник. Уч. зап. ХГУ 2, 41 (1950)
- Ю.А. Рыжов, В.В. Тамойкин. Изв. вузов. Радиофизика 13, 356 (1970)
- В.Г. Болтянский, Н.Я. Виленкин. Симметрия в алгебре. Наука, М. (1967). 284 с.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.