Загорский Д.Л.
1,2, Долуденко И.М.
1, Черкасов Д.А.
1, Жигалина О.М.
1,3, Хмеленин Д.Н.
1, Иванов И.М.
1,3, Бухараев А.А.
4, Бизяев Д.А.
4, Хайбуллин Р.И.
4, Шаталов С.А.
11Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
2Московский университет нефти и газа им. И.М. Губкина, Москва, Россия
3Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана, Москва, Россия
4Казанский физико-технический институт им. Е.К. Завойского, ФИЦ Казанский научный центр РАН, Казань, Россия
Email: dzagorskiy@gmail.com, rik@kfti.knc.ru
Поступила в редакцию: 15 апреля 2019 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2019 г.
Методом матричного синтеза в порах полимерной трековой мембраны были синтезированы нанопроволоки диаметром 100 nm, состоящие из чередующихся слоев Ni/Cu и Co/Cu с толщинами слоев от 10 до 500 nm. Подобраны составы и режимы "импульсного" электроосаждения нанопроволок. Предложен режим роста нанопроволок с протеканием одинакового заряда в импульсе. Показано, что уменьшение заряда в импульсе сначала ведет к уменьшению толщины слоя (до 10-15 nm), а затем наблюдается "перемешивание" элементного состава слоев и/или образование в нанопроволоке наноструктур типа "стержень-оболочка" ("core-stick"). Методом магнитометрии определены коэрцитивная сила (15-30 mT) и остаточная намагниченность слоевых нанопроволок. Петли магнитного гистерезиса, при регистрации в "out-of-plane" и "in-plane" геометриях измерения, подобны по форме и параметрам при толщине слоев в нанопроволоке 50-100 nm. Для нанопроволок с более толстыми слоями, 250 и 500 nm, наблюдается заметное различие в кривых гистерезиса, обусловленное магнитной анизотропией (появление оси легкого намагничивания вдоль оси нанопроволоки) и взаимным влиянием близкорасположенных нанопроволок. Магнитно-силовая микроскопия единичных нанопроволок выявила в них области намагниченности с геометрическими размерами ~100-150 nm. Показано, что внешним магнитным полем (16 mT, вдоль оси нанопроволоки) удается частично перемагнитить нанопроволоку. Ключевые слова: гетероструктурные нанопроволоки, гальваническое осаждение, магнитометрия, микроскопия.
- C.R. Martin. Science 266, 1961 (1994)
- S.K. Chakarvarti, J. Vetter. Nuclear Instrum.Meth. Phys. Res. 62, 1, 109 (1991)
- J. Vetter, R. Spohr. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. 79, 1--4, 691 (1993)
- T.M. Whitney, J.S. Jiang, P.C. Searson, C.L. Chien. Science 261, 1316 (1993)
- К.В. Фролов, Д.Л. Загорский, И.С. Любутин, М.А. Чуев, И.В. Перунов, С.А. Бедин, А.А. Ломов, В.В. Артемов, С.Н. Сульянов. Письма в ЖЭТФ 105, 5, 297 (2017)
- Д.Л. Загорский, К.В. Фролов, С.А. Бедин, И.В. Перунов, М.А. Чуев, А.А. Ломов, И.М. Долуденко. ФТТ 60, 11, 2075 (2018)
- N. Lupu. Electrodeposited Nanowires and Their Applications / Ed. N. Lupu. InTech (2010)
- Magnetic Nano- and Microwires: Design, Synthesis, Properties and Applications / Ed. M. Vazquez. Woodhead Publishing, Elsevier (2015)
- А.А. Давыдов, В.М. Волгин. Электрохимия 52, 9, 905 (2016)
- L. Piraux, J.M. George, J.F. Despres, C. Leroy, E. Ferain, R. Legras, K. Ounadjela, A. Fert. Appl. Phys. Lett. 65, 2484 (1994)
- A. Blondel, J. Meier, B. Doudin, J-Ph. Ansermet, K. Attenborough, P. Evans, R. Hart, G. Nabiyouni, W. Schwarzacher. J. Magn. Magn. Mater. 148, 317 (1995)
- K. Liu, K. Nagodawithana, P.C. Searson, C.L. Chien. Phys. Rev. 51, 73 (1995)
- L. Wang, K.Yu. Zhang, A. Metrot, P. Bonhomme, M. Troyon. Thin Solid Films 288, 86 (1996)
- A. Blondel, B. Doudin, J.P. Ansermet. J. Magn. Magn. Mater. 165, 1--3, 34 (1997)
- Yu.P. Ivanov, A. Chuvilin, L.G. Vivas, J. Kosel, O. Chubukalo-Fesenko, M. Vazques. Nature Sci. Rep. 6, 23844 (2016)
- Yu.P. Ivanov, A. Chuvilin, S. Lopatin, H. Mohammed, J. Kosel. ACS Appl. Mater. Interfaces 9, 16741 (2017)
- D. Magnin, V. Callegari, Matefi-Tempfli, M. Matefi-Tempfli, K. Glinel, A.M. Jonas, S. Demoustier-Champagne. Biomacromolecules 9, 2517 (2008).
- Д.К. Нургалиев, П.Г. Ясонов. Коэрцитивный спектрометр. Патент РФ N 81805. Бюл. ФИПС N 9 (2009)
- Д.А. Бизяев, А.А. Бухараев, Р.И. Хайбуллин, Н.М. Лядов, Д.Л. Загорский, С.А. Бедин, И.М. Долуденко. Микроэлектроника 47, 3, 212 (2018)
- А.А. Бухараев, Н.В. Бердунов, Д.В. Овчинников, К.М. Салихов. Микроэлектроника 26, 3, 163 (1997)
- P. Markiewicz, S.R. Cohen, A. Efimov, D.V. Ovichinnikov, A.A. Bukharaev. Probe Microscopy 1, 355 (1999).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.