Математическое моделирование процесса выращивания монокристалла CdTe методом Обреимова--Шубникова
Павлюк М.Д.
1, Суханова Е.А.2, Зыкова М.П.2, Волчков И.С.
1, Каневский В.М.1, Субботин И.А.3, Подурец К.М.3, Павлюк Б.Ф.4, Иванов Ю.М.5
1Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
2Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева, Москва, Россия
3Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Москва, Россия
4Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов, Москва, Россия
5Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук, Москва, Россия
Email: zenkova@crys.ras.ru
Поступила в редакцию: 16 июля 2019 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2019 г.
Впервые выполнено моделирование ростового процесса кристалла CdTe модифицированным методом Обреимова-Шубникова с применением техники самозатравления от начальной температуры охлаждения (1100oC) до момента выхода на режим стационарного роста. Рассчитано движение фронта кристаллизации в процессе роста кристалла. Результаты подтверждены методом рентгеновской топографии с использованием синхротронного излучения. Ключевые слова: CdTe, фронт кристаллизации, термоконвективные потоки.
- M. Azoulay, A. Raizman, G. Gafni, M. Roth. J. Cryst. Growth. 101, 256 (1990)
- Yu.M. Ivanov. J. Cryst. Growth. 194, 509 (1998)
- Ю.М. Иванов, А.Н, Поляков, М.Д. Зенкова, В.М. Каневский. Установка для выращивания кристаллов / Патент на полезную модель RU 51030 U1 2006
- M.D. Pavlyuk, V.M. Kanevsky, V.F. Dvoryankin, A.A. Kudryashov, A.G. Petrov, Yu.M. Ivanov. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 624, 482 (2010)
- Osamu Oda. Compound semiconductor bulk materials and characterizations. World Scientific Publishing Company, Singapore (2007). 556 p
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.