Влияние парциального давления кислорода на стехиометрический состав пленок оксида титана в процессе магнетронного нанесения
Булярский С.В.1, Гусаров Г.Г.1, Коива Д.А.1, Рудаков Г.А.1
1Институт нанотехнологий микроэлектроники Российской академии наук, Москва, Россия
Email: bulyar2954@mail.ru
Поступила в редакцию: 25 мая 2021 г.
В окончательной редакции: 25 мая 2021 г.
Принята к печати: 25 мая 2021 г.
Выставление онлайн: 9 июля 2021 г.
Представлены результаты экспериментов по синтезу нестехиометрических пленок оксидов титана при различных парциальных давлениях кислорода и мощностях разряда в реакторе при магнетронном распылении, а также результаты их термодинамического анализа. Увеличение парциального давления кислорода и снижение парциального давления титана при синтезе пленок приводит к фазовому переходу монооксида в диоксид титана, структурным изменениям пленки от мелкокристаллической к аморфной, а также изменению соотношения дефектов в материале пленки. Сопротивление пленок при этом растет на порядки своей величины. Теоретически и экспериментально показано, что это связано с изменением стехиометрического со пленок. Ключевые слова: диоксид титана, монооксид титана, парциальное давление кислорода и титана, стехиометрия, фазовый и структурный переход, прыжковая проводимость.
- X. Chen, S.S. Mao. Chem. Rev. 107, 7, 2891 (2007). https://doi.org/10.1021/cr0500535
- H. Fukuda, S. Maeda, K.M.A. Salam, S. Nomura. Jpn. J. Appl. Phys. 41, 11S, 6912 (2002). https://doi.org/10.1143/JJAP.41.6912
- K.F. Albertin, I. Pereyra. Thin Solid Films 517, 16, 4548 (2009). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2008.12.045
- M.M. Frank, S. Kim, S.L. Brown, J. Bruley, M. Copel, M. Hopstaken, M. Chudzik, V. Narayanan. Microelectron. Eng. 86, 7-9, 1603 (2009). https://doi.org/10.1016/j.mee.2009.03.063
- D. Bae, B. Seger, P.C.K. Vesborg, O. Hansen, I. Chorkendorff. Chem. Soc. Rev. 46, 7, 1933 (2017). https://doi.org/10.1039/C6CS00918B
- N.A. Deskins, J. Du, P. Rao. Phys. Chem. Chem. Phys. 19, 28, 18671 (2017). https://doi.org/10.1039/c7cp02940c
- M. Alqahtani, S. Ben-Jabar, M. Ebaid, S. Sathasivam, P. Jurczak, X. Xia, A. Alromaeh, C. Blackman, Y. Qin, B. Zhang, B.S. Ooi, H. Liu, I.P. Parkin, J. Wu. Opt. Express 27, 8, A364-A371 (2019). https://doi.org/10.1364/OE.27.00A364
- S. Avasthi, W.E. McClain, G. Man, A. Kahn, J. Schwartz, J.C. Sturm. Appl. Phys. Lett. 102, 20, 203901 (2013). https://doi.org/10.1063/1.4803446
- K.A. Nagamatsu, S. Avasthi, G. Sahasrabudhe, G. Man, J. Jhaveri, A.H. Berg, J. Schwartz, A. Kahn, S. Wagner, J.C. Sturm. Appl. Phys. Lett. 106, 12, 123906 (2015). https://doi.org/10.1063/1.4916540
- K. Jug, N.N. Nair, T. Bredow. Phys. Chem. Chem. Phys. 7, 13, 2616 (2005). https://doi.org/10.1039/b502507a
- T. Pabisiak, A. Kiejna. Solid State Commun. 144, 7-8, 324 (2007). https://doi.org/10.1016/j.ssc.2007.08.043
- P. Gu, X. Zhu, H. Wu, J. Li, D. Yang. J. Alloys. Compounds 779, 821 (2019). https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2018.11.283
- R. Heise, R. Courths, S. Witzel. Solid State Commun. 84, 6, 599 (1992). https://doi.org/10.1016/0038-1098(92)90198-I
- Z. Zhang, S.-P. Jeng, V.E. Henrich. Phys. Rev. B 43, 14, 12004 (1991). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.43.12004
- W.S. Epling, C.H.F. Peden, M.A. Henderson, U. Diebold. Surf. Sci. 412--413, 333 (1998). https://doi.org/10.1016/S0039-6028(98)00446-4
- S.V. Bulyarskiy, V.S. Gorelik, G.G. Gusarov, D.A. Koiva, A.V. Lakalin. Opt. Spectroscopy 128, 590 (2020). https://doi.org/10.1134/S0030400X20050057
- N.S. Portillo-Velez, O. Olvera-Neria, I. Hernandez-Perez, A. Rubio-Ponce. Surf. Sci. 616, 115 (2013). https://doi.org/10.1016/j.susc.2013.06.006
- В.К. Ярмаркин, С.Г. Шульман, В.В. Леманов. ФТТ 50, 10, 1767 (2008)
- H.-H. Huang, C.-C. Huang, P.-C. Huang, C.-F. Yang, C.-Y. Hsu. J. Nanosci. Nanotechnol. 8, 5, 2659 (2008). https://doi.org/10.1166/jnn.2008.548
- B. Santara, P.K. Giri, K. Imakita, M. Fujii. Nanoscale 5, 12, 5476 (2013). https://doi.org/10.1039/c3nr00799e
- H.H. Pham, L.-W. Wang. Phys. Chem. Chem. Phys. 17, 1, 541 (2015). https://doi.org/10.1039/C4CP04209C
- Б.Н. Шкловский, А.Л. Эфрос. Электронные свойства легированных полупроводников. Наука, М. (1979)
- M. Gallart, T. Cottineau, B. Honerlage, V. Keller, N. Keller, P. Gilliot. J. Appl. Phys. 124, 13, 133104 (2018). https://doi.org/10.1063/1.5043144
- M.A. Henderson. Surf. Sci. 343, 1-2, L1156 (1995). https://doi.org/10.1016/0039-6028(95)00849-7
- G.S. Herman, R.T. Zehr, M.A. Henderson. Surf. Sci. 612, L5 (2013). https://doi.org/10.1016/j.susc.2013.02.006
- F.J. Knorr, C.C. Mercado, J.L. McHale. J. Phys. Chem. C 112, 33, 12786 (2008). https://doi.org/10.1021/jp8039934
- C. Mercado, Z. Seeley, A. Bandyopadhyay, S. Bose, J.L. McHale. ACS Appl. Mater. Interfaces 3, 7, 2281 (2011). https://doi.org/10.1021/am2006433
- C.C. Mercado, F.J. Knorr, J.L. McHale. ACS Nano 6, 8, 7270 (2012). https://doi.org/10.1021/nn302392p
- J. Precli kova, P. Galavr, F. Trojanek, S. Danivs, B. Rezek, I. Gregora, Y. Nvemcova, P. Maly. J. Appl. Phys. 108, 11, 113502 (2010). https://doi.org/10.1063/1.3512982
- B. Santara, P.K. Giri, K. Imakita, M. Fujii. J. Phys. Chem. C 117, 44, 23402 (2013). https://doi.org/10.1021/jp408249q
- A. Stevanovic, M. Buttner, Z. Zhang, J.T. Yates. J. Am. Chem. Soc. 134, 1, 324 (2012). https://doi.org/10.1021/ja2072737
- A. Stevanovic, J.T. Yates. J. Phys. Chem. C 117, 46, 24189 (2013). https://doi.org/10.1021/jp407765r
- X. Wang, Z. Feng, J. Shi, G. Jia, S. Shen, J. Zhou, C. Li. Phys. Chem. Chem. Phys. 12, 26, 7083 (2010). https://doi.org/10.1039/b925277k
- R.A. Swalin. Thermodynamics of solids. J. Wiley (1972)
- Д.М. Митин, А.А. Сердобинцев. ПЖТФ 43, 17, 78 (2017). https://doi.org/10.21883/PJTF.2017.17.44950.16804
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.