Полупроводниковые свойства полимерных пленок на основе комплекса никеля с лигандом саленового типа
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 18-03-00864
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 19-29-08026
Положенцева Ю.А.
1, Алексеева Е.В.
2, Карушев М.П.
11Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
Email: miracle_r@mail.ru, alekseeva_ev@yahoo.com, mkarushev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 12 июля 2021 г.
В окончательной редакции: 9 сентября 2021 г.
Принята к печати: 9 сентября 2021 г.
Выставление онлайн: 22 октября 2021 г.
Комплексы металлов с основаниями Шиффа рассматриваются как перспективные материалы для создания энергозапасающих и фотоэлектрических устройств. В данной работе спектрофотометрическим методом и методом спектроскопии фарадеевского импеданса были изучены полупроводниковые свойства полимерной пленки комплекса никеля с основанием Шиффа саленового типа (поли-Ni(CH3O-Salen)). Анализ Мотта-Шоттки показал, что полимерная пленка представляет собой полупроводниковый материал с достаточно узкой шириной запрещенной зоны, высокой плотностью носителей заряда и p-типом проводимости. Методом спектроскопии фарадеевского импеданса установлена лимитирующая стадия реакции фотоэлектровосстановления кислорода - процесс переноса заряда с пленки на молекулярный кислород. Ключевые слова: основания Шиффа, анализ Мотта-Шоттки, фотоэлектрические устройства, полупроводниковые свойства.
- W. Cao, J. Xue. Energy Environ. Sci. 7, 7, 2123 (2014)
- G. Li, R. Zhu, Y. Yang. Nature Photonics 6, 3, 153 (2012)
- З.И. Жураева. Universum: Техн. науки 10, 55, 7 (2018)
- M. Skompska. Synth. Met. 160, 1-2, 1 (2010)
- G. Yu, A.J. Heeger. J. Appl. Phys. 78, 7, 4510 (1995)
- C. Nicolet, D. Deribew, C. Renaud, G. Fleury, C. Brochon, E. Cloutet, L. Vignau, G. Wantz, H. Cramail, M. Geoghegan, G. Hadziioannou. J. Phys. Chem. B 115, 44, 12717 (2011)
- P.A. Troshin, R.N. Lyubovskaya, V.F. Razumov. Nanotech. Russ. 3, 5-6, 242 (2008)
- Е.А. Смирнова, М.А. Беседина, М.П. Карушев, В.В. Васильев, А.М. Тимонов. ЖФХ 90, 5, 808 (2016)
- Т.В. Семенистая, А.В. Щукарев, Г.А. Шагисултанова. ЖПХ 76, 2, 225 (2003)
- Т.В. Семенистая, Г.А. Шагисултанова. ЖНХ 48, 4, 602 (2003)
- A.S. Konev, M.Y. Kayumov, M.P. Karushev, Y.V. Novoselova, D.A. Lukyanov, E.V. Alekseeva, O.V. Levin. ChemElectroChem 5, 21, 3138 (2018)
- P. Pfeiffer, E. Breith, E. Lubbe, T. Tsumaki. Justus Liebig's Ann. Der Chemie 503, 1, 84 (1933)
- V.D. Mihailetchi, H.X. Xie, B. de Boer, L.J.A. Koster, P.W.M. Blom. Adv. Funct. Mater. 16, 5, 699 (2006)
- A. Iwan, F. Caballero-Briones, M. Filapek, B. Boharewicz, I. Tazbir, A. Hreniak, J. Guerrero-Contreras. Solar Energy 146, 230 (2017)
- O. Semenikhin, E. Ovsyannikova, M. Ehrenburg, N. Alpatova, V. Kazarinov. J. Electroanal. Chem. 494, 1, 1 (2000)
- C.F. Pereira, A. Olean-Oliveira, D.N. David-Parra, M.F.S. Teixeira. Talanta 190, 119 (2018)
- M.S.A. Abdou, F.P. Orfino, Y. Son, S. Holdcroft. J. Am. Chem. Soc. 119, 19, 4518 (1997)
- S. Hoshino, M. Yoshida, S. Uemura, T. Kodzasa, N. Takada, T. Kamata, K. Yase. J. Appl. Phys. 95, 9, 5088 (2004)
- O.A. Semenikhin, E.V. Ovsyannikova, N.M. Alpatova, Z.A. Rotenberg. J. Electroanal. Chem. 408, 1-2, 67 (1996)
- O.A. Semenikhin, M.M.D. Hossain, M.S. Workentin. J. Phys. Chem. B 110, 41, 20189 (2006)
- В.Т. Аванесян, М.Ю. Пучков. ФТТ 49, 11, 2088 (2007)
- V.N. Brudnyi, S.N. Grinyaev, N.G. Kolin. Phys. B Condens. Matter 348, 1-4, 213 (2004)
- G.M. Carroll, A.M. Schimpf, E.Y. Tsui, D.R. Gamelin. J. Am. Chem. Soc. 137, 34, 11163 (2015)
- H.Y. Mao, F. Bussolotti, D.-C. Qi, R. Wang, S. Kera, N. Ueno, A.T.S. Wee, W. Chen. Org. Electron. 12, 3, 534 (2011)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
