С использованием рентгендифракционного анализа, диэлектрической спектроскопии, методов анализа сегнетоэлектрических свойств и сканирующей зондовой микроскопии исследованы фазовый состав, наноструктура и свойства тонких пленок мультиферроика Ba₂NdFeNb₄O₁₅. Для роста пленок на поверхности монокристаллической подложки Pt/MgO(001) использовался одностадийный метод ВЧ-катодного распыления в атмосфере кислорода. Установлено, что полученные пленки Ba₂NdFeNb₄O₁₅ являются однофазными, беспримесными и с-ориентированными, что позволило изучить их диэлектрические свойства вдоль полярного направления. В пленках имели место деформации растяжения элементарной ячейки 1.35% вдоль полярной оси), что привело к реализации в пленке Ba₂NdFeNb₄O₁₅ сегнетоэлектрической фазы при комнатной температуре. Обсуждаются причины выявленных закономерностей и перспективы использования данного материала в виде наноразмерных тонких пленок. Ключевые слова: мультиферроик, диэлектрические характеристики, сегнетоэлектрик, тетрагональная вольфрамовая бронза.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.