Вышедшие номера
Home » Физика твердого тела » Год 2023, выпуск 1 » Статья стр. 13
<<<>>>
Электронная структура и рентгеноспектральные характеристики полупроводниковой и металлической фаз дисилицида железа
DOI: 10.21883/FTT.2023.01.53916.474
Переводная версия: 10.21883/PSS.2023.01.54967.474
Министерство науки и высшего образования РФ , ФНТП развития синхротронных и нейтронных исследований и исследовательской инфраструктуры на 2019-2027 годы, № 075-15-2021-1351
Потуданский Г.П. 1, Курганский С.И. 1
1Воронежский государственный университет, Воронеж, Россия
Email: potudanskiy@phys.vsu.ru, kurganskii@phys.vsu.ru
Поступила в редакцию: 12 сентября 2022 г.
В окончательной редакции: 12 сентября 2022 г.
Принята к печати: 16 сентября 2022 г.
Выставление онлайн: 12 ноября 2022 г.
PDF версия
В рамках теории функционала плотности полнопотенциальным методом присоединенных плоских волн с локальными орбиталями проведен расчет электронного строения и рентгеноспектральных характеристик полупроводниковой и металлической фаз дисилицида железа. Выполнены расчеты зонной структуры, полных и парциальных плотностей электронных состояний и впервые получены рентгеновские спектры поглощения K-края железа в высоком разрешении. Впервые приведены парциальные плотности электронных состояний p-симметрии в зоне проводимости для возбужденного состояния, отражающиеся, согласно дипольным правилам отбора, в K-спектрах поглощения. Проведено сопоставление полученных результатов с известными экспериментальными данными. Дано объяснение изменения тонкой структуры вблизи края рентгеновского поглощения при переходе от полупроводниковой фазы к металлической. Ключевые слова: дисилицид железа, электронная структура, метод APW+lo, XANES, K-край поглощения.
  1. В.В. Устинов, В.Б. Бетелин, Е.Е. Тыртышников, К.В. Рудаков. Вестн. РАН 89, 4, 381 (2019)
  2. S.K. Pandey. Int. J. Sci. Studies 6, 2, 23 (2018)
  3. C.Y. Yang, S.M. Yang, Y.Y. Chen, K.C. Lu. Nanoscale Res. Lett. 15, 1, 1 (2020)
  4. G. Hamaoui, N. Horny, Z. Hua, T. Zhu, J.-F. Robillard, A. Fleming, H. Ban, M. Chirtoc. Sci. Rep. 8, 1, 1 (2018)
  5. J. Kalt, M. Sternik, B. Krause, I. Sergueev, M. Mikolasek, D. Bessas, O. Sikora, T. Vitova, J. Gottlicher, R. Steininger, P.T. Jochym, A. Ptok, O. Leupold, H.-C. Wille, A.I. Chumakov, P. Piekarz, K. Parlinski, T. Baumbach, S. Stankov. Phys. Rev. B 101, 16, 165406 (2020)
  6. S. Liang, R. Islam, D.J. Smith, P.A. Bennett. J. Cryst. Growth 295, 2, 166 (2006)
  7. J. Kalt, M. Sternik, I. Sergueev, J. Herfort, B. Jenichen, H.-C. Wille, O. Sikora, P. Piekarz, K. Parlinski, T. Baumbach, S. Stankov. Phys. Rev. B 98, 12, 121409 (2018)
  8. Э.П. Домашевская, А.А. Гуда, А.В. Чернышев, В.Г. Ситников. ФТТ 59, 2, 373 (2017)
  9. C. Blaauw, F. van der Woude, G.A. Sawatzky. J. Physics C 6, 14, 2371 (1973)
  10. R. Girlanda, E. Piparo, A. Balzarotti. J. Appl. Phys. 76, 5, 2837 (1994)
  11. I. Sandalov, N. Zamkova, V. Zhandun, I. Tarasov, S. Varnakov, I. Yakovlev, L. Solovyov, S. Ovchinnikov. Phys. Rev. B 92, 20, 205129 (2015)
  12. S. Eisebitt, J.-E. Rubensson, M. Nicodemus, T. Boske, S. Blugel, W. Eberhardt, K. Radermacher, S. Mantl, G. Bihlmayer. Phys. Rev. B 50, 24, 18330 (1994)
  13. S.J. Clark, H.M. Al-Allak, S. Brand, R.A. Abram. Phys. Rev. B 58, 16, 10389 (1998)
  14. H. Lange. Thin Solid Films 381, 2, 171 (2001)
  15. L.P. Peng, A.L. He. Mod. Numer. Simulat. Mater. Sci. 3, 01, 13 (2013)
  16. T. Pandey, D.J. Singh, D. Parker, A.K. Singh. J. Appl. Phys. 114, 15, 153704 (2013)
  17. Q.L. Qiu, J.J. Yuan, H.J. Cao, Y.Y. Zhu. 3rd Int. Conf. Material, Mechanical and Manufacturing Engineering (IC3ME 2015). Atlantis Press (2015). P. 1560
  18. Materials Project. https://materialsproject.org/materials/mp-1714
  19. Materials Project. https://materialsproject.org/materials/mp-20738
  20. A.A. Guda, S.A. Guda, A. Martini, A.N. Kravtsova, A. Algasov, A. Bugaev, S.P. Kubrin, L.V. Guda, P. vSot, J.A. van Bokhoven, C. Coperet, A.V. Soldatov. npj Comput. Mater. 7, 1, 1 (2021)
  21. K. Schwarz, P. Blaha, G.K.H. Madsen. Comp. Phys. Commun. 147, 1-2, 71 (2002)
  22. P. Blaha, K. Schwarz, F. Tran, R. Laskowski, G.K. Madsen, L.D. Marks. J. Chem. Phys. 152, 7, 014101 (2020)
  23. P. Blaha, D.J. Singh, P.I. Sorantin, K. Schwarz. Phys. Rev. B 46, 3, 1321 (1992)
  24. J.P. Perdew, K. Burke, M. Ernzerhof. Phys. Rev. Lett. 77, 18, 3865 (1996)
  25. G.P. Potudanskii, S.I. Kurganskii, E.P. Domashevskaya. Mater. Res. Exp. 6, 11, 1150g9 (2019)
  26. F. Tran, P. Blaha. Phys. Rev. Lett. 102, 22, 226401 (2009)
  27. I. Khan, I. Ahmad, H.R. Rahnamaye Aliabad, M. Maqbool. Mater. Today: Proceeding 2, 10, 5122 (2015)
  28. F. Margarido, M.O. Figueiredo. Mater. Sci. Eng. A 104, 249 (1988)
  29. F. Weitzer, J.C. Schuster. J. Solid State Chem. 70, 2, 178 (1987)
  30. F.A. Sidorenko, P.V. Gel'd, L.B. Dubrovskayo. Refract. Trans. Met. Comp. 178 (1964)
  31. B.A. Aronsson. Acta Chem. Scandinavica 14, 6, 1414 (1960)
  32. M.D. Manyakin, S.I. Kurganskii, O.I. Dubrovskii, O.A. Chuvenkova, E.P. Domashevskaya, S.V. Ryabtsev, R. Ovsyannikov, E.V. Parinova, V. Sivakov, S.Yu. Turishchev. Mater. Sci. Semicond. Proc. 99, 28 (2019)
  33. A. Kokalj. J. Mol. Graph. Mod. 17, 3-4, 176 (1999)
  34. W. Setyawan, S. Curtarolo. Computat. Mater. Sci. 49, 2, 299 (2010)
  35. С.И. Курганский, Н.С. Переславцева. ФТТ 44, 4, 678 (2002)
  36. Giannini, S. Lagomarsino, F. Scarinci, P. Castrucci. Phys. Rev. B 45, 15, 8822 (1992)
  37. K. Radermacher, O. Skeide, R. Carius, J. Klomfab, S. Manti. MRS Online Proc. Library Archive 320, 115 (1993)
  38. H. Lange. 5th Int. Conf. on Solid-State and Integrated Circuit Technology. Proceedings (Cat. No. 98EX105). Beijing, IEEE (1998). P. 247.
  39. F.F.H. Aragon, L. Villegas-Lelovsky, L. Cabral, M.P. Lima, A. Mesquita, J.A.H. Coaquira. Nanoscale Adv. 3, 5, 1484 (2021)
  40. A. Fernandez-Panella, T. Ogitsu, K. Engelhorn, A.A. Correa, B. Barbrel, S. Hamel, D.G. Prendergast, D. Pemmaraju, M.A. Beckwith, L.J. Bae, J.W. Lee, B.I. Cho, P.A. Heimann, R.W. Falcone, Y. Ping. Phys. Rev. B 101, 18, 184309 (2020)
  41. G.B. Grad, E.R. Gonzalez, J. Torres Di az, E.V. Bonzi. J. Mater. Sci. Res. Rev. 1, 3, 1 (2018)
  42. B. Khanbabaee, B. Arezki, A. Biermanns, M. Cornejo, D. Hirsch, D. Lutzenkirchen-Hecht, F. Frost, U. Pietsch. Thin Solid Films 527, 349 (2013)
  43. I. Akai, K. Iwamitsu, Y. Igarashi, M. Okada, H. Setoyama, T. Okajima, Y. Hirai. J. Phys. Soc. Jpn. 87, 7, 074003 (2018)
  44. Е.В. Храмов, В.В. Привезенцев, А.Н. Палагушкин. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования 11, 24 (2020).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme