Крупномасштабные флуктуации потенциала, обусловленные неоднородностью состава SiOx
Новиков Ю.Н.1, Гриценко В.А.1
1Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Email: nov@isp.nsc.ru
Поступила в редакцию: 20 июля 2011 г.
Выставление онлайн: 18 февраля 2012 г.
Методом высокоразрешающей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии изучен ближний порядок в аморфных пленках SiOx (0=<q x=<q2). Как модель случайных связей, так и модель случайной смеси не описывают экспериментальные фотоэлектронные спектры SiOx (x=<q2). Предложена промежуточная модель строения SiOx. Измеренные фотоэлектронные спектры валентной зоны SiOx (x=<q2) свидетельствуют о присутствии в них кремниевой фазы и оксида кремния. Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (грант N 10-07-00531-a) и интеграционным проектом N 70 СО РАН.
- M.C. Rossi, S. Salvatori, F. Scrimizzi, F. Galluzzi, R. Janssen, M. Stutzmann. J. Lumin. 80, 405 (1998)
- I.Z. Indutnyy, P.E. Shepeliavyi, E.V. Michailovskaya, C.W. Park, J.B. Lee, Y.R. Do. J. Techn. Phys. 47, 720 (2006)
- C. Banerjee, J. Sritharathikhum, A. Yamada, M. Konagai. J. Phys. D. 41, 1 (2008)
- N.V. Duy, S. Jung, K. Kim, D.N. Son, N.T. Nga, J. Cho, B. Choi, J. Yi. J. Phys. D: 43, 1 (2010)
- V.A. Gritsenko, J.B. Xu, R.W.M. Kwok, Y.N. Ng, I.H. Wilson. Phys. Rev. Lett. 81, 1054 (1998)
- В.А. Гриценко. УФН 178, 727 (2008)
- P. Bruesch, T. Stockmeier, F. Stucki, P.A. Buffat. J. Appl. Phys. 73, 7677 (1993)
- F.G. Bell, L. Ley. Phys. Rev. B 37, 8383 (1988)
- V.A. Gritsenko, Y.G. Shavalgin, P.A. Pundur, H. Wong, W.M. Kwok. Philos. Mag. B 80, 1857 (2000)
- S. Hasegawa, L. He, T. Inokuma, Y. Kurata. Phys. Rev. B 46, 12 478 (1992)
- D.V. Tsu, G. Lucovsky, B.N. Davidson. Phys. Rev. B 40, 1795 (1989)
- В.А. Гриценко, Д.В. Гриценко, Ю.Н. Новиков, Р.В.М. Квок, И. Белло. ЖЭТФ 125, 868 (2004)
- J.-J. Yen. Atomic calculation of photoionization cross-section and asymmetry parameters. Gordon and Breach Science Publisher, New Jersey, USA (1993). P. 223
- E. Martinez, F. Yndurain. Phys. Rev. B 24, 5718 (1981)
- Y. Kanemitsu, S. Okamoto, M. Otobe, S. Oda. Phys. Rev. B 55, R7375 (1997)
- R.A. Puglisi, G. Nicotra, S. Lombardo, B.D. Salvo, C. Gerardi. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 830, D5.6.1 (2005)
- Y. Kanzawa, S. Hayashi, K. Yamamoto. J. Phys.: Cond. Matter 8, 4823 (1996)
- W.L. Zhang, S. Zhang, M. Yang, Z. Liu, Z. Cen, T. Chen, D. Liu. Vacuum 84, 1043 (2010)
- D. Nesheva, C. Raptis, A. Perakis, I. Bineva, Z. Aneva, Z. Levi, S. Alexandrova, H. Hofmeister. J. Appl. Phys. 92, 4678 (2002)
- Y.C. Fang, W.Q. Li, L.J. Qi, L.Y. Li, Y.Y. Zhao, Z.J. Zhang, M. Lu. Nanotechnol. 15, 494 (2004)
- А.П. Барабан, Д.В. Егоров, Ю.В. Петров, Л.В. Милоглядова. Письма в ЖТФ 30, 1 (2004)
- E.V. Kolesnikova, M.V. Zamoryanskaya. Physica B 404, 4653 (2009)
- T.W. Hickmott, J.E. Baglin. J. Appl. Phys. 50, 317 (1979)
- Б.И. Шкловский, А.Л. Эфрос. Электронные свойства легированных полупроводников. Наука, М. (1979). С. 416
- В.А. Гриценко, К.С. Журавлев, В.А. Надолинный. ФТТ 53, 803 (2011)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.