Оптическая спектроскопия тонких пленок оксида цинка, легированных медью
Аванесян В.Т.1, Жаркой А.Б.1, Сычев М.М.2,3, Ерузин А.А.4
1Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный технологический институт (Технический университет), Санкт-Петербург, Россия
3Институт химии силикатов им. И.В. Гребенщикова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
4ОАО "Радиотехкомплект", Санкт-Петербург, Россия
Email: avanesyan@mail.ru
Поступила в редакцию: 8 марта 2023 г.
В окончательной редакции: 19 марта 2023 г.
Принята к печати: 20 марта 2023 г.
Выставление онлайн: 30 апреля 2023 г.
Представлены результаты сравнительного изучения оптических свойств тонких пленок оксида цинка ZnO с учетом влияния легирования их медью. С использованием экспериментальных спектров оптического пропускания получены спектральные зависимости показателей преломления и экстинкции исследуемого материала, а также компонентов комплексной диэлектрической проницаемости. Выявленные особенности полученных дисперсионных кривых связываются с поведением примеси, внедренной в матрицу ZnO. Ключевые слова: длина волны, оптическое пропускание, показатель преломления, диэлектрическая проницаемость.
- K. Nomura, H. Ohta, K. Ueda, T. Kamiya, M. Hirano, H. Hosono. Sci. 300, 6, 1269 (2003)
- R. John, S. Padmavathi. Crystal Structure Theory. Applications 5, 2, 24 (2016)
- Т.В. Бланк, Ю.А. Гольдберг. ФТП 37, 9, 1025 (2003). [T.V. Blank, Yu.A. Gol'dberg. Semiconductors 37, 9, 999 (2003).]
- C.G. Granqvist. Solar Energy Mater. Solar Cells 91, 17, 1529 (2007)
- А.Н. Грузинцев, В.Т. Волков, Е.Е. Якимов. ФТП 37, 3, 275 (2003). [A.N. Gruzintsev, V.T. Volkov, E.E. Yakimov. Semiconductors 37, 3, 259 (2003).]
- Я.И. Аливов, М.В. Чукичев, В.А. Никитенко. ФТП 38, 1, 34 (2004). [Ya.I. Alivov, M.V. Chukichev, V.A. Nikitenko. Semiconductors 38, 1, 31 (2004).]
- R. Cusco, E. Alarcon-Llado, J. Ibanez, L. Artus, J. Jimenez, B. Wang, M.J. Callahan. Phys. Rev. B 75, 16, 5202 (2007)
- R. Swanepoel. J. Phys. E 16, 12, 1214 (1983)
- В.И. Кондрашин. Изв. вузов. Поволжский регион. Тех. науки 2 (38), 93 (2016)
- В.В. Брус, З.Д. Ковалюк, П.Д. Марьянчук. ЖТФ 82, 8, 110 (2012). [V.V. Brus, Z.D. Kovalyuk, P.D. Maryanchuk. Tech. Phys. 57, 8, 1148 (2012).]
- E. Marquez, J. Ramirez-Malo, P. Villares, R. Jimenez-Garay, P.J.S. Ewen, A.E. Owen. J. Phys. D 25, 3, 535 (1992)
- E.R. Shaaban. J. Appl. Sci. 6, 2, 340 (2006)
- P. Sharma, V. Sharma, S.C. Katyal. Chalcogenide Lett. 3, 10, 73 (2006)
- М.М. Мездрогина, А.Я. Виноградов, В.С. Левицкий, Е.Е. Терукова, Ю.В. Кожанова, А.С. Агликов. ФТП 51, 5, 588 (2017). [M.M. Mezdrogina, A.Ya. Vinogradov, V.S. Levitskii, E.E. Terukova, Yu.V. Kozhanova, A.S. Aglikov. Semiconductors 51, 5, 559 (2017).]
- В.Т. Аванесян, П.С. Провоторов, В.М. Стожаров, М.М. Сычев, А.А. Ерузин. Оптика и спектроскопия 129, 9, 1142 (2021). [V.T. Avanesyan, P.S. Provotorov, V.M. Stozharov, M.M. Sychev, A.A. Eruzin. Opt. Spectroscopy 129, 11, 1196 (2021).]
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.