Управление микромагнитной структурой многофазных тонких пленок CoPt путем варьирования толщин слоев
Российский научный фонд, «Проведение исследований на базе существующей научной инфраструктуры мирового уровня» Президентской программы исследовательских проектов, реализуемых ведущими учеными, в том числе молодыми учеными, 21-79-20186
Дорохин М.В.
1, Дёмина П.Б.
1, Здоровейщев А.В.
1, Здоровейщев Д.А.
1, Темирязев А.Г.
1,2, Темирязева М.П.
2, Калентьева И.Л.
1, Трушин В.Н.
11Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
2Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, Фрязино, Россия
Email: dorokhin@nifti.unn.ru, demina@phys.unn.ru, zdorovei@nifti.unn.ru, daniel.zdorov@gmail.com, temiryazev@gmail.com, mtemiryazeva@gmail.com, istery@rambler.ru, trushin@phys.unn.ru
Поступила в редакцию: 17 апреля 2023 г.
В окончательной редакции: 17 апреля 2023 г.
Принята к печати: 11 мая 2023 г.
Выставление онлайн: 31 мая 2023 г.
Исследованы магнитные свойства и микромагнитная структура многослойных магнитных пленок вида [Co/Pt]10, сформированных независимым варьированием толщин слоев Co и Pt. Показана возможность управления в широких пределах параметрами намагничивания пленки. Получено, что микромагнитная структура пленок существенно модифицируется при изменении толщин слоев, при этом изменения коррелируют с видом магнитополевой зависимости сопротивления Холла. В частности, для ряда структур методом магнитно-силовой микроскопии была выявлена система магнитных скирмионов, плотность которых зависит от условий роста и коррелирует с величиной остаточной намагниченности. Изменение толщин слоев Co и Pt позволяет управлять плотностью скирмионов в пределах от 0.2 до 10.5 mkm-2. Ключевые слова: микромагнитная структура, скирмионы, пленки CoPt, электронно-лучевое испарение.
- L. Wang, C. Liu, N. Mehmood, G. Han, Y. Wang, X. Xu, C. Feng, Z. Hou, Y. Peng, X. Gao, G. Yu. ACS Appl. Mater. Interfaces 11, 12098 (2019)
- P. Vlaic, E. Burzo. J. Opt. Adv. Mater. 12, 5, 1114 (2010)
- J.B. Newkirk, R. Smoluchowski, A.H. Geisler, D.L. Martin. J. Appl. Phys. 22, 290 (1951)
- A.W. Rushforth, P.C. Main, B.L. Gallagher, C.H. Marrows, B.J. Hickey, E.D. Dahlberg, P. Eames. J. Appl. Phys. 89, 7534 (2001)
- A.V. Zdoroveyshchev, O.V. Vikhrova, P.B. Demina, M.V. Dorokhin, A.V. Kudrin, A.G. Temiryazev, M.P. Temiryazeva. Int. J. Nanosci. 18, 3-4, 1940019 (2019)
- А.Г. Темирязев, М.П. Темирязева, А.В. Здоровейщев, О.В. Вихрова, М.В. Дорохин, П.Б. Демина, А.В. Кудрин. ФТТ 60, 11, 2158 (2018)
- А.Г. Темирязев, А.В. Здоровейщев, М.П. Темирязева. Изв. РАН, Сер. физ. 87, 3, 362 (2023)
- J.C. Woolley, J.H. Phillips, J.A. Clark. J. Less-Com. Met. 6, 461 (1964)
- N. Nagaosa, J. Sinova, S. Onoda, A.H. MacDonald, N.P. Ong. Rev. Mod. Phys. 82, 1539 (2010)
- M.V. Dorokhin, A.V. Zdoroveyshchev, M.P. Temiryazeva, A.G. Temiryazev, P.B. Demina, O.V. Vikhrova, A.V. Kudrin, I.L. Kalentyeva, M.V. Ved, A.N. Orlova, V.N. Trushin, A.V. Sadovnikov, D.A. Tatarskiy. J. All. Comp. 926, 166956 (2022)
- S.T. Ruggiero, A. Williams, C.E. Tanner, S. Potashnik, J. Moreland, W.H. Rippard. Appl. Phys. Lett. 82, 4599 (2003)
- Y. Yang, J.S. Chen, G.M. Chow. J. Appl. Phys. 109, 07B744 (2011)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.