Эволюция структурных и точечных дефектов в кварцевом стекле, подвергнутом тонкому отжигу
Щербаков И.П.1, Еронько С.Б.2, Киреенко М.Ф.1, Тихонова Л.В.1, Чмель А.Е.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова, Санкт-Петербург, Россия
Email: chmel@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 22 мая 2023 г.
В окончательной редакции: 22 мая 2023 г.
Принята к печати: 26 июня 2023 г.
Выставление онлайн: 11 августа 2023 г.
Кварцевое стекло с высоким содержанием групп OH, синтезированное высокотемпературным гидролизом SiCl4, было подвергнуто тонкому отжигу. Сочетанием методов фотолюминесценции и ИК-спектроскопии отслеживалась эволюция ансамбля точечных и структурных дефектов в процессе отжига при температуре 480oC. В объеме образцов наблюдалось заметное снижение концентрации дефектов силикатной сетки при экспозициях 24 и 72 h. На поверхности образцов после термического воздействия отмечено уменьшение концентрации силанольных групп Si-OH, возникших в примененном процессе синтеза. Гибель этих групп приводит к консолидации силикатной сетки, что отразилось в образовании поверхностного уплотненного слоя с повышенной микротвердостью. Ключевые слова: кварцевое стекло, тонкий отжиг, фотолюминесценция, инфракрасная спектроскопия. DOI: 10.21883/FTT.2023.08.56157.85
- K.H. Jack, J.A. Winterburn. Patent US 322876. (1962)
- H.E. Hagy. Appl. Opt. 7, 69 (1968)
- W. Gang, L.Y. Bin, L.L. Zheng, Zh. Hui, X. Lei, Q.F. Min, M. Ping, Y.D. Yao Proc. SPIE 10154, 1015410 (2016)
- V. Pezold. Optical Glass: In: Advances in Glass Science and Technology. Intech Open Book Series. Ch. 5. (2018)
- M.H.S. Abadi, A. Delbari, Z. Fakoor, J. Baedi. J. Ceram. Sci. Tech. 6, 41 (2015)
- R. Salh. J. At. Mol. Opt. Phys. ID 326368 (2011)
- F. Flores, M. Aceves, C. Domi nguez, C. Falcony. Rev. Superficies y Vaci o. 18, 7 (2005)
- J.C. Cheang-Wong, A. Oliver, J. Roiz, J.C. Hernandez, L. Rodri guez-Fernandez, J.G. Morales, A. Crespo-Sosa. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. 175-177, 494 (2001)
- M. Zhu, Y. Han. J. Appl Phys. 83, 5386 (1998)
- F. Adam, J.-H. Chua. J. Colloid Interface Sci. 280, 55 (2004)
- S. Pontonа, F. Dhainaut, H. Vergnes, D. Samelor, D. Sadowski, V. Rouessac, H. Lecoq, T. Sauvage, B. Caussat, C. Vahlas. J. Non-Cryst. Solids 515, 34 (2019)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
