Физика твердого тела
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Исследование рельефа напряжений и распределения деформаций в пленках графена биосенсоров вирусных инфекций
Российский научный фонд, Влияние морфологии структуры графен/SiC на адсорбционные свойства поверхности графена, 22-12-00134
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
2Группа компаний "Нитридные кристаллы", Санкт-Петербург, Россия
3Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
2Группа компаний "Нитридные кристаллы", Санкт-Петербург, Россия
3Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
Email: ilya.eliseyev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 19 мая 2023 г.
В окончательной редакции: 25 сентября 2023 г.
Принята к печати: 30 октября 2023 г.
Выставление онлайн: 6 декабря 2023 г.
Практическое применение биосенсоров вирусных инфекций на основе графена во многом сдерживается невоспроизводимостью их параметров, в том числе адсорбционных свойств графена в биосенсорах. В данной работе экспериментально обнаружен новый источник невоспроизводимости параметров биосенсоров, вызванный формированием рельефа напряжений на поверхности графена. Контроль топографии поверхности графена методом атомно-силовой микроскопии совместно с анализом деформации графена методом спектроскопии комбинационного рассеяния света позволяет отбраковать пластины с рельефом напряжений и значительно повысить воспроизводимость параметров биосенсоров. Ключевые слова: графен, биосенсоры, спектроскопия КРС, атомно-силовая микроскопия.
- D.M. Mackenzie, J.D. Buron, P.R. Whelan, J.M. Caridad, M. Bjergfelt, B. Luo, A. Shivayogimath, A.L. Smitshuysen, J.D. Thomsen, T.J. Booth, L. Gammelgaard, J. Zultak, B.S. Jessen, P. B ggild, D.H. Petersen. Nano Res. 10, 3596 (2017)
- I. Shtepliuk, F. Giannazzo, R. Yakimova. Appl. Sci. 11, 13, 5784 (2021)
- A. Choi, A.T. Hoang, T.T. Ngoc Van, B. Shong, L. Hu, K.Y. Thai, J.-H. Ahn. Chem. Eng. J. 429, 132504 (2022)
- N.M. Shmidt, A.S. Usikov, E.I. Shabunina, A.V. Naschekin, E.V. Gushchina, I.A. Eliseyev, V.N. Petrov, M.V. Puzyk, O.V. Avdeev, S.A. Klotchenko, S.P. Lebedev, E.M. Tanklevskaya, Yu.N. Makarov, A.A. Lebedev, A.V. Vasin. Biosensors 12, 1, 8 (2022)
- И.А. Елисеев, Е.А. Гущина, С.А. Клотченко, А.А. Лебедев, Н.М. Лебедева, С.П. Лебедев, А.В. Нащекин, В.Н. Петров, М.В. Пузык, А.Д. Роенков, А.Н. Смирнов, Е.М. Танклевская, А.С. Усиков, Е.И. Шабунина, Н.М. Шмидт. ФТП 56, 12, 1137 (2022)
- X. Li, L. Tao, Z. Chen, H. Fang, X. Li, X. Wang, J.-B. Xu, H. Zhu. Appl. Phys. Rev. 4, 2, 021306 (2017)
- A.A. Lebedev, V.Yu. Davydov, D.Yu. Usachov, S.P. Lebedev, A.N. Smirnov, I.A. Eliseyev, M.S. Dunaevskiy, E.V. Gushchina, K.A. Bokai, J. Pezoldt. Semiconductors 52, 14, 1882 (2018)
- T.M.G. Mohiuddin, A. Lombardo, R.R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D.M. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K.S. Novoselov, A.K. Geim, A.C. Ferrari. Phys. Rev. B 79, 20, 205433 (2009)
- I.A. Eliseyev, V.Yu. Davydov, A.N. Smirnov, M.O. Nestoklon, P.A. Dementev, S.P. Lebedev, A.A. Lebedev, A.V. Zubov, S. Mathew, J. Pezoldt, K.A. Bokai, D.Yu. Usachov. Semiconductors 53, 14, 1904 (2019)
- E.H. Martins Ferreira, M.V.O. Moutinho, F. Stavale, M.M. Lucchese, R.B. Capaz, C.A. Achete, A. Jorio. Phys. Rev. B 82, 125429 (2010)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
