Кристаллическая структура, элементный состав и электронное строение манганита Pr1-xBixMnO3+σ по данным рентгеновской дифракции и рентгеноэлектронной спектроскопии
Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation , FENW-2023-0014
Гуглев К.А.
1, Козаков А.Т.
2, Кочур А.Г.
1, Никольский А.В.
2, Рудская А.Г.
31Ростовский государственный университет железнодорожного транспорта, Ростов-на-Дону, Россия
2Научно-исследовательский институт физики Южного федерального университета, Ростов-на-Дону, Россия
3Южный федеральный университет, Ростов-на-Дону, Россия
Email: googlev@rambler.ru, kozakov_a@mail.ru, agk@rgups.ru, atkozakov@sfedu.ru, agrudskaya@sfedu.ru
Поступила в редакцию: 10 февраля 2024 г.
В окончательной редакции: 10 февраля 2024 г.
Принята к печати: 20 февраля 2024 г.
Выставление онлайн: 22 апреля 2024 г.
По данным рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии определено отношение долей трехвалентного и четырехвалентного марганца Mn3+/Mn4+ в керамическом манганите Pr1-xBixMnO3+σ. Профили рентгеновских фотоэлектронных Pr4d- и Mn2p-спектров рассчитаны в приближении изолированного иона с учетом мультиплетного расщепления в конечном состоянии фотоионизации. Получено хорошее согласие с экспериментом. Ключевые слова: манганит, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, валентное состояние, мультиплетное расщепление, рентгеновская дифракция.
- N.E. Massa, L. Campo, D.D.S. Meneses, M.J. Marti nez-lope, J.A. Alonso. J. Phys. Condens. Matter 25, 235603 (2013)
- Q. Renwen, L. Zhe, F. Jun. Phys. B: Condens. Matter 406, 1312 (2011)
- S. Jin, T.H. Tiefel, M. McCormack, R.A. Fastnacht, R. Ramesh, L.H. Chen. Science 264, 413 (1994)
- H. Wang, H. Zhang, K. Su, S. Huang, W. Tan, D. Huo. J. Mater. Sci. Mater. Electron. 31, 14421 (2020)
- J. Han, X. Yu, Sh. Jin, X. Guan, X. Gu, Y. Yan, K. Wu, L. Zhao, J. Jiang, J. Peng, H. Liu, X. Liu. Ceram. Int. 49, 4386 (2023)
- T. Sun, F. Ji, Y. Liu, G. Dong, S. Zhang, Q. Chen, X. Liu. J. Eur. Ceram. Soc. 39, 352 (2019)
- N. Assoudi, I. Walha, E. Dhahri, S. Alleg, E.K. Hlil. Solid State Commun. 277, 13 (2018)
- J.Y. Fan, Y.F. Xie, Y.E. Yang, C.X. Kan, L.S. Ling, W. Tong, C.X. Wang, C.L. Ma, W.F. Sun, Y. Zhu, H. Yang. Ceram. Int. 45, 9179 (2019)
- S.A. Yang, Q.M. Chen, Y.R. Yang, Y. Gao, R.D. Xu, H. Zhang, J. Ma. J. Alloys Compd. 882, 160719 (2021)
- H.Y. Mo, H.S. Nan, X.Q. Lang, S.J. Liu, L. Qiao, X.Y. Hu, H.W. Tian. Ceram. Int. 44, 9733 (2018)
- X.L. Guan, K.L. Chu, H.J. Li, X.R. Pu, X.H. Yu, S.Z. Jin, Y. Zhu, S.H. Sun, J.B. Peng, X. Liu. J. Alloys Compd. 876, 160173 (2021)
- X. Pu, H. Li, G. Dong, K. Chu, S. Zhang, Y. Liu, X. Yu, X. Liu. Ceram. Int. 46, 4984 (2020)
- E. Hernandez, V. Sagredo, G.E. Delgado. Rev. Mex. Fis. 61, 166 (2015)
- B. Dabrowskia, S. Kolesnika, A. Baszczukb, O. Chmaissema, T. Maxwella, J. Mais. J. Solid State Chem. 178, 629 (2005)
- A. Moreira dos Santos, A.K. Cheetham, T. Atou, Y. Syono, Y. Yamaguchi, K. Ohoyama, H. Chiba. Phys. Rev. B 66, 064425 (2002)
- E.O. Wollan, W.C. Koehler. Phys. Rev. 100, 2, 545 (1955)
- J.B. Goodenough. Phys. Rev. 100, 2, 564 (1955)
- E. Dagotto, T. Hotta, A. Moreo. Phys. Rep. 344, 1 (2001)
- I.O. Troyanchuk, O.S. Mantytskaja, H. Szymczak, M.Yu. Shvedun. Low Temp. Phys. 28, 7, 569 (2002)
- В.А. Хомченко, И.О. Троянчук, О.С. Мантыцкая. ЖЭТФ 130, 1 ( 7), 64 (2006)
- V.R. Galakhov, M.C. Falub, K. Kuepper, M. Neumann. J. Struct. Chem. 49, Supplement S54 (2008)
- V.R. Galakhov, M. Demeter, S. Bartkowski, M. Neumann, N.A. Ovechkina, E.Z. Kurmaev, N.I. Lobachevskaya, Ya.M. Mukovskii, J. Mitchell, D.L. Ederer. Phys. Rev. B 65, 113102 (2002)
- A.G. Kochur, A.T. Kozakov, A.V. Nikolskii, K.A. Googlev, A.V. Pavlenko, I.A. Verbenko, L.A. Reznichenko, T.I. Krasnenko. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 185, 175 (2012)
- A.T. Kozakov, A.G. Kochur, L.A. Reznichenko, L.A. Shilkina, A.V. Pavlenko, A.V. Nikolskii, K.A. Googlev, V.G. Smotrakov. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 186, 14 (2013)
- W. Kraus, G. Nolze. J. Appl. Cryst. 29, 301 (1996)
- Practical Surface Analysis by Auge rand X-Ray Photoelectron Spectroscopy / Eds D. Briggs, M.P. Seach. John Wiley \& Sons, Chichester (1983). 533 p
- В.И. Нефедов. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия химических соединений. Химия, М. (1984). С. 256
- Handbook of X-Ray Photoelectron Spectroscopy / Eds C.D. Wagner, W.M. Riggs, L.E. Davis, J.F. Moulder. Perkin-Elmer Corporation, Eden Prairie, Minnesota, USA (1979). 190 p
- A.T. Kozakov, A.G. Kochur, V.G. Trotsenko, A.V. Nikolskii, M. El Marssi, B.P. Gorshunov, V.I. Torgashev. J. Alloys Compd. 740, 132 (2018)
- A.T. Kozakov, A.G. Kochur, A.V. Nicolsky, K.A. Googlev, V.G. Smotrakov, V.V. Eremkin. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 184, 508 (2011)
- N.A. Liedienov, Z. Wei, V.M. Kalita, A.V. Pashchenko, Q. Li, I.V. Fesych, V.A. Turchenko, C. Hou, X. Wei, B. Liu, A.T. Kozakov, G.G. Levchenko. Appl. Mater. Today. 26, 101340 (2022)
- A.T. Kozakov, A.G. Kochur, A.V. Nikolskii, I.P. Raevski, S.P. Kubrin, S.I. Raevskaya, V.V. Titov, A.A. Gusev, V.P. Isupov, G. Lid, I.N. Zakharchenko. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 239, 146918 (2020)
- A.G. Kochur, A.T. Kozakov, V.A. Yavna, Ph. Daniel. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 195, 200 (2014)
- A.G. Kochur, A.T. Kozakov, K.A. Googlev, A.V. Nikolskii. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 195, 1 (2014)
- H. Ogasawara, A. Kotani, R. Potze, G.A. Sawatzky, B.T. Thole. Phys. Rev. B 44, 5465 (1991)
- P. Orgiani, A. Galdi, C. Aruta, V. Cataudella, G. De Filippis, C.A. Perroni, V. Marigliano Ramaglia, R. Ciancio, N.B. Brookes, M. Moretti Sala, G. Ghiringhelli, L. Maritato. Phys. Rev. B 82, 20, 205122 (2010)
- P. Orgiani, C. Aruta, R. Ciancio, A. Galdi L. Maritato. J. Nanoparticle Res. 15, 1655 (2013)
- R.D. Shannon. Acta crystallogr. A: Cryst. Phys. Diffr. Theor. Gen. Crystallogr. 32, 5, 751 (1976)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
