Вышедшие номера
Home » Физика твердого тела » Год 2024, выпуск 4 » Статья стр. 571
<<<>>>
Кристаллическая структура, элементный состав и электронное строение манганита Pr1-xBixMnO3+σ по данным рентгеновской дифракции и рентгеноэлектронной спектроскопии
Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation , FENW-2023-0014
Гуглев К.А.1, Козаков А.Т. 2, Кочур А.Г.1, Никольский А.В.2, Рудская А.Г.3
1Ростовский государственный университет железнодорожного транспорта, Ростов-на-Дону, Россия
2Научно-исследовательский институт физики Южного федерального университета, Ростов-на-Дону, Россия
3Южный федеральный университет, Ростов-на-Дону, Россия
Email: googlev@rambler.ru, kozakov_a@mail.ru, agk@rgups.ru, atkozakov@sfedu.ru, agrudskaya@sfedu.ru
Поступила в редакцию: 10 февраля 2024 г.
В окончательной редакции: 10 февраля 2024 г.
Принята к печати: 20 февраля 2024 г.
Выставление онлайн: 22 апреля 2024 г.
PDF версия
По данным рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии определено отношение долей трехвалентного и четырехвалентного марганца Mn3+/Mn4+ в керамическом манганите Pr1-xBixMnO3+σ. Профили рентгеновских фотоэлектронных Pr4d- и Mn2p-спектров рассчитаны в приближении изолированного иона с учетом мультиплетного расщепления в конечном состоянии фотоионизации. Получено хорошее согласие с экспериментом. Ключевые слова: манганит, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, валентное состояние, мультиплетное расщепление, рентгеновская дифракция.
  1. N.E. Massa, L. Campo, D.D.S. Meneses, M.J. Marti nez-lope, J.A. Alonso. J. Phys. Condens. Matter 25, 235603 (2013)
  2. Q. Renwen, L. Zhe, F. Jun. Phys. B: Condens. Matter 406, 1312 (2011)
  3. S. Jin, T.H. Tiefel, M. McCormack, R.A. Fastnacht, R. Ramesh, L.H. Chen. Science 264, 413 (1994)
  4. H. Wang, H. Zhang, K. Su, S. Huang, W. Tan, D. Huo. J. Mater. Sci. Mater. Electron. 31, 14421 (2020)
  5. J. Han, X. Yu, Sh. Jin, X. Guan, X. Gu, Y. Yan, K. Wu, L. Zhao, J. Jiang, J. Peng, H. Liu, X. Liu. Ceram. Int. 49, 4386 (2023)
  6. T. Sun, F. Ji, Y. Liu, G. Dong, S. Zhang, Q. Chen, X. Liu. J. Eur. Ceram. Soc. 39, 352 (2019)
  7. N. Assoudi, I. Walha, E. Dhahri, S. Alleg, E.K. Hlil. Solid State Commun. 277, 13 (2018)
  8. J.Y. Fan, Y.F. Xie, Y.E. Yang, C.X. Kan, L.S. Ling, W. Tong, C.X. Wang, C.L. Ma, W.F. Sun, Y. Zhu, H. Yang. Ceram. Int. 45, 9179 (2019)
  9. S.A. Yang, Q.M. Chen, Y.R. Yang, Y. Gao, R.D. Xu, H. Zhang, J. Ma. J. Alloys Compd. 882, 160719 (2021)
  10. H.Y. Mo, H.S. Nan, X.Q. Lang, S.J. Liu, L. Qiao, X.Y. Hu, H.W. Tian. Ceram. Int. 44, 9733 (2018)
  11. X.L. Guan, K.L. Chu, H.J. Li, X.R. Pu, X.H. Yu, S.Z. Jin, Y. Zhu, S.H. Sun, J.B. Peng, X. Liu. J. Alloys Compd. 876, 160173 (2021)
  12. X. Pu, H. Li, G. Dong, K. Chu, S. Zhang, Y. Liu, X. Yu, X. Liu. Ceram. Int. 46, 4984 (2020)
  13. E. Hernandez, V. Sagredo, G.E. Delgado. Rev. Mex. Fis. 61, 166 (2015)
  14. B. Dabrowskia, S. Kolesnika, A. Baszczukb, O. Chmaissema, T. Maxwella, J. Mais. J. Solid State Chem. 178, 629 (2005)
  15. A. Moreira dos Santos, A.K. Cheetham, T. Atou, Y. Syono, Y. Yamaguchi, K. Ohoyama, H. Chiba. Phys. Rev. B 66, 064425 (2002)
  16. E.O. Wollan, W.C. Koehler. Phys. Rev. 100, 2, 545 (1955)
  17. J.B. Goodenough. Phys. Rev. 100, 2, 564 (1955)
  18. E. Dagotto, T. Hotta, A. Moreo. Phys. Rep. 344, 1 (2001)
  19. I.O. Troyanchuk, O.S. Mantytskaja, H. Szymczak, M.Yu. Shvedun. Low Temp. Phys. 28, 7, 569 (2002)
  20. В.А. Хомченко, И.О. Троянчук, О.С. Мантыцкая. ЖЭТФ 130, 1 ( 7), 64 (2006)
  21. V.R. Galakhov, M.C. Falub, K. Kuepper, M. Neumann. J. Struct. Chem. 49, Supplement S54 (2008)
  22. V.R. Galakhov, M. Demeter, S. Bartkowski, M. Neumann, N.A. Ovechkina, E.Z. Kurmaev, N.I. Lobachevskaya, Ya.M. Mukovskii, J. Mitchell, D.L. Ederer. Phys. Rev. B 65, 113102 (2002)
  23. A.G. Kochur, A.T. Kozakov, A.V. Nikolskii, K.A. Googlev, A.V. Pavlenko, I.A. Verbenko, L.A. Reznichenko, T.I. Krasnenko. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 185, 175 (2012)
  24. A.T. Kozakov, A.G. Kochur, L.A. Reznichenko, L.A. Shilkina, A.V. Pavlenko, A.V. Nikolskii, K.A. Googlev, V.G. Smotrakov. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 186, 14 (2013)
  25. W. Kraus, G. Nolze. J. Appl. Cryst. 29, 301 (1996)
  26. Practical Surface Analysis by Auge rand X-Ray Photoelectron Spectroscopy / Eds D. Briggs, M.P. Seach. John Wiley \& Sons, Chichester (1983). 533 p
  27. В.И. Нефедов. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия химических соединений. Химия, М. (1984). С. 256
  28. Handbook of X-Ray Photoelectron Spectroscopy / Eds C.D. Wagner, W.M. Riggs, L.E. Davis, J.F. Moulder. Perkin-Elmer Corporation, Eden Prairie, Minnesota, USA (1979). 190 p
  29. A.T. Kozakov, A.G. Kochur, V.G. Trotsenko, A.V. Nikolskii, M. El Marssi, B.P. Gorshunov, V.I. Torgashev. J. Alloys Compd. 740, 132 (2018)
  30. A.T. Kozakov, A.G. Kochur, A.V. Nicolsky, K.A. Googlev, V.G. Smotrakov, V.V. Eremkin. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 184, 508 (2011)
  31. N.A. Liedienov, Z. Wei, V.M. Kalita, A.V. Pashchenko, Q. Li, I.V. Fesych, V.A. Turchenko, C. Hou, X. Wei, B. Liu, A.T. Kozakov, G.G. Levchenko. Appl. Mater. Today. 26, 101340 (2022)
  32. A.T. Kozakov, A.G. Kochur, A.V. Nikolskii, I.P. Raevski, S.P. Kubrin, S.I. Raevskaya, V.V. Titov, A.A. Gusev, V.P. Isupov, G. Lid, I.N. Zakharchenko. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 239, 146918 (2020)
  33. A.G. Kochur, A.T. Kozakov, V.A. Yavna, Ph. Daniel. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 195, 200 (2014)
  34. A.G. Kochur, A.T. Kozakov, K.A. Googlev, A.V. Nikolskii. J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 195, 1 (2014)
  35. H. Ogasawara, A. Kotani, R. Potze, G.A. Sawatzky, B.T. Thole. Phys. Rev. B 44, 5465 (1991)
  36. P. Orgiani, A. Galdi, C. Aruta, V. Cataudella, G. De Filippis, C.A. Perroni, V. Marigliano Ramaglia, R. Ciancio, N.B. Brookes, M. Moretti Sala, G. Ghiringhelli, L. Maritato. Phys. Rev. B 82, 20, 205122 (2010)
  37. P. Orgiani,  C. Aruta, R. Ciancio, A. Galdi  L. Maritato. J. Nanoparticle Res.  15, 1655 (2013)
  38. R.D. Shannon. Acta crystallogr. A: Cryst. Phys. Diffr. Theor. Gen. Crystallogr. 32, 5, 751 (1976)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme