Вышедшие номера
Рост эпитаксиальных тонких пленок антиферромагнетика Sr2IrO4 для гетероструктур спинтроники
Российский научный фонд, № 23-79-00010, № 23-79-00010
Москаль И.Е.1, Кислинский Ю.В. 1, Петржик А.М.1, Овсянников Г.А.1, Дубицкий Н.В2
1Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, Москва, Россия
2Российский технологический университет --- МИРЭА, Москва, Россия
Email: yulii@hitech.cplire.ru, ivan.moscal@yandex.ru
Поступила в редакцию: 18 апреля 2024 г.
В окончательной редакции: 18 апреля 2024 г.
Принята к печати: 8 мая 2024 г.
Выставление онлайн: 6 июля 2024 г.

Представлено сравнение параметров эпитаксиальных тонких пленок иридата стронция Sr2IrO4, полученных двумя методами: катодным распылением на постоянном токе и катодным распылением на импульсном токе. Сравниваются резистивные и кристаллографические характеристики полученных тонкопленочных образцов. Обсуждаются модели электронного транспорта полученных пленок: термическая активация, типичная для зонного диэлектрика, и трехмерная прыжковая проводимость, характерная для моттовского прыжкового проводника. Ключевые слова: антиферромагнетизм, иридат стронция, эпитаксиальные тонкие пленки.
  1. H. Zhang, C. Liu, X. Qi, X. Dai, Z. Fang, S. Zhang. Nature Phys. 5, 438 (2009)
  2. X. Wan, A.M. Turner, A. Vishwanath, S.Y. Savrasov. Phys. Rev. B 83, 205101 (2011)
  3. Y.S. Hor, A.J. Williams, J.G. Checkelsky, P. Roushan, J. Seo, Q. Xu, H.W. Zandbergen, A. Yazdani, N.P. Ong, R.J. Cava. Phys. Rev. Lett. 104, 057001 (2010)
  4. B.J. Kim, H. Jin, S.J. Moon, J.Y. Kim, B.G. Park, C.S. Leem, J. Yu, T.W. Noh, C. Kim, S.J. Oh, J.H. Park, V. Durairaj, G. Cao, E. Rotenberg. Phys. Rev. Lett. 101, 076402 (2008)
  5. C. Cosio-Castaneda, G. Tavizon, A. Baeza, P. de la Mora, R. Escudero. J. Phys.: Condens. Mater 19, 446210 (2007)
  6. J. Yang, L. Hao, P. Nanney, K. Noordhoek, D. Meyers, L. Horak, J. Sanchez, J.-H. Chu, C. Nelson, M.P.M. Dean, J. Liu. Appl. Phys. Lett. 114, 182401 (2019)
  7. K. Nishio, H.Y. Hwang, Y. Hikita. APL Mater. 4, 036102 (2016)
  8. Y.V. Kislinskii, K.Y. Constantinian, I.E. Moskal, N.V. Dubitskiy, A.M. Petrzhik, A.V. Shadrin, G.A. Ovsyannikov. Russ. Microelectron. 52, S53 (2023)
  9. M. Petrzhik, K.Y. Constantinian, G.A. Ovsyannikov, A.V. Zaitsev, A.V. Shadrin, A.S. Grishin, Yu.V. Kislinski, G. Cristiani, G. Logvenov. Phys. Rev. B 100, 024501 (2019)
  10. Г.А. Овсянников, А.М. Петржик, И.В. Борисенко, А.А. Климов, Ю.А. Игнатов, В.В. Демидов, С.А. Никитов. ЖЭТФ 135, 56 (2009)
  11. А.М.Петржик, G. Cristiani, Г. Логвенов, А.Е. Пестун, Н.В. Андреев, Ю.В. Кислинский, Г.А. Овсянников. Письма в ЖТФ 43, 12, 25 (2017)
  12. C. Lu, A. Quindeau, H. Deniz, D. Preziosi, D. Hesse, M. Alexe. Appl. Phys. Lett. 105, 082407 (2014)
  13. V. Fuentes, L. Balcells, Z. Konstantinovic, B. Marti nez, A. Pomar. Nanomaterials B 14, 3, 242 (2024)
  14. E.D. Specht, R.E. Clausing, L. Heathly. J. Mater. Res. 5, 2351 (1990)
  15. H.С. Montgomery. J. Appl. Phys. 42, 2971 (1971)
  16. Boris I. Shklovskii, Alex L. Efros. Electronic Properties of Doped Semiconductors. Springer Verlag, Berlin-Heidelberg (1984)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.