Физика твердого тела
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
К вопросу о тонкой структуре 2p-спектров поверхности (100) кремния
Кузьмин М.В.
1, Моняк А.А.
1, Сорокина С.В.
1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Email: m.kuzmin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 22 мая 2024 г.
В окончательной редакции: 22 мая 2024 г.
Принята к печати: 24 мая 2024 г.
Выставление онлайн: 6 июля 2024 г.
Используя синхротронное излучение и фотоэлектронную спектроскопию высокого разрешения (56-66 meV), исследована тонкая структура 2p-спектров поверхности Si(100) при 100 K в широкой области значений глубины выхода электронов. Показано, что эти спектры включают в себя пять поверхностных компонент. Установлена взаимосвязь их энергетических сдвигов с атомной и электронной структурой реконструкции с(4x2). Определены условия, при которых 2p-спектры имеют наибольшую чувствительность к поверхности и объему кремния, и, в частности, получены значения длины свободного пробега электронов в кремниевом кристалле как функции энергии фотонов. Полученные результаты могут быть использованы в качестве справочных данных в исследованиях различных поверхностных структур на подложке Si(100) с помощью фотоэмиссионных методов. Ключевые слова: поверхность, фотоэлектронная спектроскопия, остовный уровень, поверхностный сдвиг, кремний, длина свободного пробега.
- C.S. Fadley. Surf. Interface Anal. 40, 1579 (2008)
- D. Wolverson, B. Smith, E. Como, C. Sayers, G. Wan, L. Pasquali, M. Cattelan. J. Phys. Chem. C 126, 9135 (2022)
- Y. Kayser, C. Milne, P. Juranic, L. Sala, J. Czapla-Masztafiak, R. Follath, M. Kavcic, G. Knopp, J. Rehanek, W. Blachucki, M.G. Delcey, M. Lundberg, K. Tyrala, D. Zhu, R. Alonso-Mori, R. Abela, J. Sa, J. Szlachetko. Nature Commun. 10, 4761 (2019)
- М.В. Гомоюнова, И.И. Пронин. ФТТ 74, 10, 1 (2004)
- F.J. Himpsel, P. Heimann, T.-C. Chiang, D.E. Eastman. Phys. Rev. Lett. 45, 1112 (1980)
- G.K. Wertheim, D.M. Riffe, J.E. Rowe, P.H. Citrin. Phys. Rev. Lett. 67, 120 (1991)
- F.J. Himpsel, F.R. McFeely, A. Taleb-Ibrahimi, J.A. Yarmoff, G. Hollinger. Phys. Rev. B 38, 6084 (1988)
- D.H. Rich, T. Miller, T.-C. Chiang. Phys. Rev. B 37, 3124 (1988)
- D.-S. Lin, T. Miller, T.-C. Chiang. Phys. Rev. Lett. 67, 2187 (1991)
- E. Landemark, C.J. Karlsson, Y.-C. Chao, R.I.G. Uhrberg. Phys. Rev. Lett. 69, 1588 (1992)
- O.V. Yazyev, A. Pasquarello. Phys. Rev. Lett. 96, 157601 (2006)
- T.-W. Pi, C.-P. Cheng, I.-H. Hong. Surf. Sci. 418, 113 (1998)
- H. Koh, J.W. Kim, W.H. Choi, H.W. Yeom. Phys. Rev. B 67, 073306 (2003)
- P.E.J. Eriksson, R.I.G. Uhrberg. Phys. Rev. B. 81, 125443 (2010)
- D.A. Shirley. Phys. Rev. B 5, 4709 (1972)
- G.H. Major, N. Farley, P.M.A. Sherwood, M.R. Linford, J. Terry, V. Fernandez, K. Artyushkova. J. Vac. Sci. Technol. A 38, 061203 (2020)
- R.J. Hamers, R.M. Tromp, J.E. Demuth. Phys. Rev. B 34, 5343 (1986)
- R.A. Wolkov. Phys. Rev. Lett. 68, 2636 (1992)
- E. Pehlke, M. Scheffler. Phys. Rev. Lett. 71, 2338 (1993)
- M.P.J. Punkkinen, K. Kokko, L. Vitos, P. Laukkanen, E. Airiskallio, M. Ropo, M. Ahola-Tuomi, M. Kuzmin, I.J. Vayrynen, B. Johansson. Phys. Rev. B. 77, 245302 (2008)
- R.M. Tromp, R.J. Hamers, J.E. Demuth. Phys. Rev. Lett. 55, 1303 (1985)
- B.S. Swartzentruber, Y.W. Mo, M.B. Webb, M.G. Lagally. J. Vac. Sci. Technol. A 7, 2901 (1989)
- C.J. Powell, A. Jablonski. NIST Electron Inelastic-Mean-Free-Path Database. Version 1.2, SRD 71. National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD (2010)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
