Магнитная анизотропия пленок Сo/Pt, приготовленных последовательным напылением слоев субатомных толщин
Комогорцев C.В.1,2, Важенина И.Г.1, Мацынин А.А.1,2, Великанов Д.А.1, Фельк В.А.1,2, Дорохин М.В.3, Здоровейщев А.В.3, Здоровейщев Д.А.3, Калентьева И.Л.3
1Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
2Сибирский государственный университет науки и технологий им. М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
3Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: komogor@iph.krasn.ru
Поступила в редакцию: 18 апреля 2024 г.
В окончательной редакции: 18 апреля 2024 г.
Принята к печати: 8 мая 2024 г.
Выставление онлайн: 5 августа 2024 г.
Магнитная анизотропия тонкой магнитной пленки, приводящая к тому, что намагниченность ориентирована перпендикулярно ее плоскости, привлекает интерес как важнейшая составляющая для реализации нетривиальных топологических состояний, таких как магнитные скирмионы. В работе обсуждаются результаты исследования магнитной анизотропии пленок [Co/Pt]10 на Si, приготовленных последовательным напылением слоев Co и Pt субатомных толщин. С помощью исследований крутящего момента, кривых намагничивания, а также ферромагнитого резонанса оценены константа анизотропии и ее тип (ось либо плоскость легкого намагничивания). Картины магнитной неоднородности, рассчитанные с использованием константы магнитной анизотропии, установленной в эксперименте, согласуются с экспериментальными картинами магнитного силового контраста, изученными ранее. Оценка константы интерфейсной магнитной анизотропии исследуемых пленок Co/Pt составила ki=(0.50±0.17) erg/cm2. Ключевые слова: магнитная анизотропия, тонкие пленки, ферромагнетизм.
- Н.М. Саланский, М.Ш. Ерухимов. Физические свойства и применение магнитных пленок. Наука, Новосибирск (1975)
- J. Ariake, T. Chiba, S. Watanabe, N. Honda, K. Ouchi. J. Magn. Magn. Mater. 287, 229 (2005)
- Y. Kawada, Y. Ueno, K. Shibata. IEEE Trans. Magn. 38, 2045 (2002)
- L. Neel. J. Phys. Le Radium. 15, 225 (1954)
- D. Weiler, R.F.C. Farrow, R.F. Marks, G.R. Harp, H. Notarys, G. Gorman. MRS Proc. 313, 791 (1993)
- N. Nozawa, S. Saito, S. Hinata, M. Takahashi. J. Phys. D 46, 172001 (2013)
- Y.C. Won, S.H. Lim. Sci. Rep. 11, 10779 (2021)
- T.Y. Lee, Y. Chan Won, D. Su Son, S. Ho Lim, S.-R. Lee. J. Appl. Phys. 114, 173909 (2013)
- K. Yakushiji, T. Saruya, H. Kubota, A. Fukushima, T. Nagahama, S. Yuasa, K. Ando. Appl. Phys. Lett. 97, 232508 (2010)
- T. Young Lee, D. Su Son, S. Ho Lim, S.-R. Lee. J. Appl. Phys. 113, 216102 (2013)
- I.B. Chung, Y.M. Koo, J.M. Lee. J. Appl. Phys. 87, 4205 (2000)
- M.V. Dorokhin, A.V. Zdoroveyshchev, M.P. Temiryazeva, A.G. Temiryazev, P.B. Demina, O.V. Vikhrova, A.V. Kudrin, I.L. Ka\=lentyeva, M.V. Ved, A.N. Orlova, V.N. Trushin, A.V. Sadovnikov, D.A. Tatarskiy. J. Alloys Compd. 926, 166956 (2022)
- Y. Zhou, R. Mansell, S. van Dijken. Appl. Phys. Lett. 118, 172409 (2021)
- H. Yang, A. Thiaville, S. Rohart, A. Fert, M. Chshiev. Phys. Rev. Lett. 115, 267210 (2015)
- L. Wang, C. Liu, N. Mehmood, G. Han, Y. Wang, X. Xu, C. Feng, Z. Hou, Y. Peng, X. Gao, G. Yu. ACS Appl. Mater. Interfaces. 11, 12098 (2019)
- S. Bandiera, R.R. Sousa, B.B. Rodmacq, B. Dieny. IEEE Magn. Lett. 2, 3000504 (2011)
- D. Ourdani, Y. Roussigne, S.M. Cherif, M.S. Gabor, M. Belmeguenai. J. Phys. D 55, 485004 (2022)
- A.I. Bobrov, Y.A. Danilov, M.V. Dorokhin, A.V. Zdoroveyshchev, N.V. Malekhonova, E.I. Malysheva, D.A. Pavlov, S. Saeid. J. Surf. Investig. X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 9, 706 (2015)
- E.C. Stoner, E.P. Wohlfarth. Phil. Trans. Roy. Soc. A 240, 559 (1948)
- G.Y. Melnikov, I.G. Vazhenina, R.S. Iskhakov, N.M. Boev, S.V. Komogortsev, A.V. Svalov, G.V. Kurlyandskaya. Sensors 23, 6165 (2023)
- S.V. Komogortsev, I.G. Vazhenina, S.A. Kleshnina, R.S. Iskhakov, V.N. Lepalovskij, A.A. Pasynkova, A.V. Svalov. Sensors 22, 3324 (2022)
- P.D. Kim, I.A. Turpanov, S.V. Stolyar, R.S. Iskhakov, V.I. Yushkov, A.Y. Beten'kova, L.A. Li, E.V. Bondareva, T.N. Isaeva, M.M. Karpenko. Tech. Phys. 49, 431 (2004)
- P.D. Kim, I.A. Turpanov, S.V. Stolyar, V.I. Yushkov, D.L. Khalyapin. Phys. Met. Metallogr. 102, S83 (2006)
- S.V. Komogortsev, R.S. Iskhakov, A.A. Zimin, E.Y. Filatov, S.V. Korenev, Y.V. Shubin, N.A. Chizhik, G.Y. Yurkin, E.V. Eremin. Appl. Phys. Lett. 103, 152404 (2013)
- S. Jen, T. Chen, B. Chao. Phys. Rev. B 48, 12789 (1993)
- F.J.A. den Broeder, W. Hoving, P.J.H. Bloemen. J. Magn. Magn. Mater. 93, 562 (1991)
- M.J. Donahue, D.G. Porter. OOMMF user's guide, version 1.0. MD, Gaithersburg (1999)
- S.V. Komogortsev, R.S. Iskhakov, A.A. Zimin, E.Y. Filatov, S.V. Korenev, Y.V. Shubin, N.A. Chizhik, G.Y. Yurkin, E.V. Eremin. J. Magn. Magn. Mater. 401, 236 (2016)
- И.Л. Калентьева, О.В. Вихрова, Ю.А. Данилов, А.В. Здоровейщев, М.В. Дорохин, Ю.А. Дудин, А.В. Кудрин, М.П. Темирязева, А.Г. Темирязев, С.А. Никитов, А.В. Садовников. ФТТ 63, 324 (2021)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.