Влияние подслоя CrW на структуру и магнитные свойства тонких пленок FePt
Камзин А.С.1, Wei F.L2, Ганеев В.3, Зарипова Л.Д.3
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Key Laboratory for Magnetism and Magnetic Materials of the Ministry of Education, Research Institute of Magnetic Materials, Lanzhou University, Lanzhou, China
3Казанский федеральный университет, Казань, Россия
Email: kamzin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 6 февраля 2012 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2012 г.
Методом магнетронного распыления получены многослойные структуры Fe55Pt45(20 nm)/Pt(5 nm)/ Cr100-xWx(80 nm)/стекло, в которых магнитная пленка Fe55Pt45 обладает гранецентрированной тетрагональной (ГЦТ) структурой L10-фазы текстуры (001). Исследована микроструктура и текстура пленок FePt в зависимости от содержания W в подслое Cr100-xWx, где 0 <x< 25. Установлено, что повышение концентрации ионов W приводит к формированию в подслое Cr100-xWx текстуры (200) и увеличению постоянной решетки Cr. При этом понижается температура преобразования гранецентрированной кубической фазы в ГЦТ-фазу пленок FePt из-за увеличения напряжений растяжения вдоль оси a. Найдено, что коэрцитивность FePt тонких пленок, осажденных на подложки CrW, возрастает с увеличением содержания W в подслое Cr100-xWx вследствие того, что образуемый сплав CrW препятствует диффузии между пленкой FePt и подслоем CrW. Дополнительный промежуточный слой Pt толщиной 5 nm осажден также для подавления диффузии между слоями FePt и CrW. В результате осаждением на подложку, нагретую до температуры 400oC, и подслой Cr85W115 получены высокотекстурированные FePt пленки (001) для сверхвысокоплотной записи информации.
- T. Klemmer, D. Hoydick, H. Okumura, B. Zhang, W.A. Soffa. Scripta Met. Mater. 33, 1793 (1995)
- R. Fernandez, N. Amos, C. Zhang, B. Lee, S. Khizroev. Thin Solid Films 519, 8053 (2011)
- Y.F. Ding, X. Zhao, E. Liu. In: Magnetic thin films Ed. J.P. Volkerts. Nova Science Publ., Inc. (2011). Ch. 8
- M.A. Parker, J.K. Howard, R. Ahlert, K.R. Coffey. J. Appl. Phys. 73, 5560 (1993)
- Z.S. Shan, C.P. Luo, M. Azarisooreh, K. Honardoost, M. Russak, Y. Liu, J.P. Liu, D.J. Sellmyer. IEEE Trans. Magn. 35, 2643 (1999)
- Y. Xu, J.S. Chen, and J.P. Wang. Appl. Phys. Lett. 80, 3325 (2002)
- Y.N. Hsu, S. Jeong, D.E. Laughlin, D.N. Lambeth. J. Appl. Phys. 89, 7068 (2001)
- M.L. Plumer, J. van Ek, D. Weller. The physics of ultra-high-density magnetic recording (Springer, Berlin, 2001). P. 40
- В.Г. Семенов, В.В. Панчук. Частное сообщение (2010)
- J.S. Chen, B.C. Lim, J.P. Wang. Appl. Phys. Lett. 81, 1848 (2002)
- V. Karanasos, I. Panagiotopoulos, D. Niarchos, H. Okumura, G.C. Hadjipanayis. Appl. Phys. Lett. 79, 1255 (2001)
- P.C. Kuo, Y.D. Yao, C.M. Kuo, H.C. Wu. J. Appl. Phys. 87, 6146 (2000)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
