Вышедшие номера
Исследование двойникованных опалоподобных структур методом малоугловой рентгеновской дифракции
Самусев А.К.1, Синев И.С.1, Самусев К.Б.1, Рыбин М.В.1, Мистонов А.А.2, Григорьева Н.А.2, Григорьев С.В.3, Петухов А.В.4, Белов Д.В.4, Трофимова Е.Ю.1, Курдюков Д.А.1, Голубев В.Г.1, Лимонов М.Ф.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
3Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова, Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Гатчина, Ленинградская область, Россия
4Debye Institute for Nanomaterials Science, Utrecht University, Utrecht, The Netherlands
Email: A.Samusev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 28 марта 2012 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2012 г.

В результате исследования малоугловой дифракции рентгеновского излучения на пленках синтетического опала в зависимости от ориентации образца была проведена интерпретация всех наблюдаемых (hkl) дифракционных рефлексов. Выполнена процедура реконструкции обратной решетки исследованных пленок. Проведены расчеты картин дифракции и профилей интенсивности рассеяния вдоль цепочек узлов обратной решетки. Показано, что проявление в реконструированной обратной решетке опалов цепочек перекрывающихся узлов, ориентированных вдоль направления Gamma L, является следствием двух факторов: малой толщины пленки и дефектов упаковки. Работа выполнена при поддержке РФФИ (гранты N 10-02-01094, 11-02-00865, 10-02-00634) и программы "Михаил Ломоносов" германской службы академических обменов.