Микроструктура и электрические свойства тонких пленок SnS
Башкиров С.А.1, Гременок В.Ф.1, Иванов В.А.1, Шевцова В.В.1
1НПЦ по материаловедению НАН Белоруссии, Минск, Белоруссия
Email: bashkirov@ifttp.bas-net.by
Поступила в редакцию: 25 апреля 2012 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2012 г.
Тонкие пленки SnS представляют интерес для оптоэлектроники. Исследовано влияние режимов получения на микроструктуру и электрические свойства тонких пленок SnS, полученных методом горячей стенки на подложках из чистого стекла и стекла с подслоем молибдена. Установлено, что на подложках из чистого стекла в зависимости от режима получения возможно формирование пленок SnS с двумя типами текстуры (111) и (010). Удельное сопротивление и температурный коэффициент термоэдс пленок SnS на стекле изменяются в пределах от 12 до 817 Omega·cm и от 37 до 597 muV/K соответственно в зависимости от режимов получения. Энергия активации составляет 0.11-0.12 eV. Работа выполнена при поддержке Белорусского республиканского фонда фундаментальных исследований.
- K. Reddy, N. Reddy, R. Miles. Solar Energy Mater. Solar Cells 90, 3041 (2006)
- M. Gunasekaran, M. Ichimura. Solar Energy Mater. Solar Cells 91, 774 (2007)
- T. Chattopadhyay, J. Pannetier, H. von Schnering. J. Phys. Chem. Solids 47, 879 (1986)
- W. Albers, K. Schol. Philips Res. Rep. 16, 329 (1961)
- R. Sharma, Y. Chang. Bull. Alloy Phase Diagrams 7, 269 (1986)
- R. Kniep, D. Mootz, U. Severin, H. Wunderlich. Acta Crystallogr. B 38, 2022 (1982)
- A. Tanuv sevski, D. Poelman. Solar Energy Mater. Solar Cells 80, 297 (2003)
- M. Calixto-Rodriguez, H. Martinez, A. Sanchez-Juarez, J. Campos-Alvarez, A. Tiburcio-Silver, M. Calixto. Thin Solid Films 517, 2497 (2009)
- T. Sajeesh, A. Warrier, C. Kartha, K. Vijayakumar. Thin Solid Films 518, 4370 (2010)
- F. Kanga, M. Ichimura. Thin Solid Films 519 725 (2010)
- M. Devika, N. Reddy, K. Ramesh, V. Ganesan, E. Gopal, K. Reddy. Appl. Surf. Sci. 253, 1673 (2006)
- M. Devika, N. Reddy, K. Ramesh, K. Gunasekhar, E. Gopal, K. Reddy. Semicond. Sci. Technol. 21, 1125 (2006)
- M. Devika, N. Koteeswara Reddy, D. Sreekantha Reddy, S. Venkatramana Reddy, K. Ramesh, E.S.R. Gopal, K.R. Gunasekhar, V. Ganesan, Y.B. Hahn. J. Phys.: Cond. Matter. 19, 306 003 (2007)
- R. Miles, O. Ogah, G. Zoppi, I. Forbes. Thin Solid Films 517, 4702 (2009)
- A. Lopez-Otero. Thin Solid Films 49, 3 (1978)
- С.А. Башкаров, В.Ф. Гременок, В.А. Иванов. ФТП 45, 765 (2011)
- В.Ф. Гременок, В.Ю. Рудь, Ю.В. Рудь, С.А. Башкиров, В.А. Иванов. ФТП 45, 1084 (2011)
- R. Colin, J. Drowart. J. Chem. Phys. 37, 1120, (1962)
- M. Devika, K.T.R. Reddy, N.K. Reddy, K. Ramesh, R. Ganesan, E.S.R. Gopal, K.R. Gunasekhar, J. Appl. Phys. 100, 023 518 (2006)
- M. Devika, N. Koteeswara Reddy, K. Ramesh, K.R. Gunasekhar, E.S.R. Gopal, K.T. Ramakrishna Reddy. J. Electrochem. Soc., 154, H67 (2007)
- V.V. Lazenka, K. Bente, R. Kaden, V.A. Ivanov, V.F. Gremenok. J. Adv. Microsc. Res. 6, 53 (2011)
- J.S. Anderson, M.C. Mortan. Nature 155, 112 (1945)
- H. Rau. J. Phys. Chem. Solids 27, 761 (1966)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук