Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2005, выпуск 7 » Статья стр. 75
<<<>>>
Емкость межфазной границы La0.67Sr0.33MnO3/(Ba,Sr)TiO3, индуцированная проникновением электрического поля в манганитный электрод
Бойков Ю.А.1, Данилов В.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: yu.boikov@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 13 октября 2004 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2005 г.
PDF версия
Методом лазерного испарения выращены трехслойные гетероструктуры (001) La0.67Sr0.33MnO3|| (001) BaxSr1-xTiO3 ||(001) La0.67Sr0.33MnO3 (x=0,0.25) на монокристаллических подложках (001) La0.3Sr0.7Al0.65Ta0.35O3. В широком (~ 150 K) интервале температур эффективная диэлектрическая проницаемость varepsilon выращенных пленок (1000 nm) Ba0.25Sr0.75TiO3 и (1000 nm) SrTiO3 следовала соотношению varepsilon~(T-TCW)-1, где TCW - температура Кюри-Вейса для соответствующих объемных кристаллов. Используя экспериментальные зависимости varepsilon(T), оценена величина емкости (CInt~ 4 muF/cm2) межфазных границ (001) La0.67Sr0.33MnO3/(001) BaxSr1-xTiO3 и (001) La0.67Sr0.33MnO3/(001) SrTiO3, обусловленной проникновением электрического поля в манганитный электрод. При использовании напряжения смещения ± 2.5 V перенастраиваемость диэлектрической проницаемости слоев STO и BSTO в исследованных гетероструктурах достигала 25 и 45% соответственно.
  1. Tachiki M., Noda M., Yamada K., Kobayashi T. // J. Appl. Phys. 1998. Vol. 83. N 10. P. 5351
  2. Бойков Ю.А., Клаесон Т. // ФТТ. 2004. Т. 46. Вып. 7. С. 1231
  3. Hong J.P., Lee J.S. // Appl. Phys. Lett. 1996. V. 68. N 21. P. 3034
  4. Boikov Yu.A., Claeson T. // Phys. Rev. B. To be published
  5. Snyder G.J., Hiskes R., DiCarolis S., Beasley M.R., Geballe T.H. // Phys. Rev. B 53. N 21. P. 14 434
  6. Boikov Yu.A., Claeson T. // Appl. Phys. Lett. 2002. Vol. 80. N 24. P. 4603
  7. Бойков Ю.А., Данилов В.А. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. Вып. 9. С. 26
  8. Kamins T.I. // J. Appl. Phys. 1971. Vol. 42. N 11. P. 4357
  9. Wiedenhorst B., Hofener C., Lu Y., Klein J., Alff L., Gross R., Freitag B.H., Mader W. // Appl. Phys. Lett. 1999. Vol. 74. N 24. P. 3636
  10. Спецификация компании Crystec, поставившей подложки ISATO
  11. Boikov Yu.A., Claeson T. // Physica. 2002. Vol. B 311. N 3--4. P. 250
  12. Wollan E.O., Koehler W.C. // Phys. Rev. 1955. Vol. 100. N 2. P. 545
  13. Boikov Yu.A., Erts D., Claeson T. // Mater. Sci. Engin. 2001. Vol. B 79. N 2. P. 133
  14. Neville R.C., Hoeneisen B., Mead C.A. // J. Appl. Phys. 1972. Vol. 43. N 5. P. 2124
  15. Hilton A.D., Ricketts B.W. // J. Phys. D. 1996. Vol. 29. N 5. P. 1321
  16. Ku H.Y., Ullman F.G. // J. Appl. Phys. 1964. Vol. 35. N 4. P. 265
  17. Boikov Yu.A., Claeson T. // Supercond. Sci. Technol. 1999. Vol. 12. N 10. P. 654

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme