Физика твердого тела
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Роль адгезии при фазовом переходе металл-полупроводник в поликристаллических пленках диоксида ванадия
Андреев В.Н.1, Климов В.А.1, Компан М.Е.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Email: vn.andreev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 21 марта 2013 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2013 г.
Травление тонких поликристаллических пленок диоксида ванадия в парах плавиковой кислоты позволило выявить существенное влияние степени адгезии на температурное положение и форму петли гистерезиса отражательной способности. Установлено, что в тех случаях, когда подложкой служит кремний, травление при комнатной температуре сопровождается внедрением водорода в тонкие пленки диоксида ванадия. Работа поддержана научной программой ОФН РАН.
- А.А. Бугаев, Б.П. Захарченя, Ф.А. Чудновский. Фазовый переход металл-полупроводник и его применение. Наука, Л. (1979). 183 с
- W. Bruckner, H. Oppermann, W. Reichelt, E.I. Terukov, F.A. Tschudnowski, E. Wolf. Vanadiumoxide. Akademie-Verlag, Berlin (1983). 252 p
- P.B. Allen, R.M. Wentscovitch, W.W. Schuls, P.C. Canfield. Phys. Rev. B 48, 4359 (1993)
- В.Н. Андреев, В.А. Климов, Ф.А. Чудновский. Письма в ЖЭТФ 19, 9, 63 (1993)
- M.M. Qazilbash, K.S. Burch, D. Whisler, D. Shrekenhamer, B.G. Chae, H.T. Kim, D.N. Basov. Phys. Rev. B 74, 205 118 (2006)
- В.Н. Андреев, В.А. Климов. ФТТ 49, 2146 (2007)
- O.B. Danilov, V.P. Belousov, I.M. Belousova. Proc. SPIE 3263, 124 (1998)
- О.Б. Данилов, В.А. Климов, О.П. Михеева, А.И. Сидоров, С.А. Тульский, Е.Б. Шадрин, И.Л. Ячнев. ЖТФ 73, 1, 79 (2003)
- А.А. Бугаев, А.Б. Ваньков, В.А. Лукошкин. ФТТ 29, 2710 (1987)
- A. Cavalleri, Cs. Toth, G.W. Siders, J.A. Squier. Phys. Rev. Lett. 87, 23, 237 401 (2001)
- B. Felde, W. Niessner, D. Schalch, A. Scharmann, M. Werling. Thin Solid Films 305, 61 (1997)
- Y. Muraoka, Z. Hiroi. Appl. Phys. Lett. 80, 583 (2002)
- Y. Muraoka, Y. Ueda, Z. Hiroi. J. Chem. Phys. Solids 63, 965 (2002)
- В.Н. Андреев, В.А. Климов. ФТТ 53, 538 (2011)
- A. Tselev, E. Strelkov, I.A. Luk'yanchuk, J.D. Budai, J.Z. Tischler, I.N. Ivanov, K. Jones, R. Proksch, S.V. Kalinin, A. Kolmakov. Nano Lett. 10, 2003 (2010)
- A. Tselev, I.A. Luk'yanchuk, I.N. Ivanov, J.D. Budai, J.Z. Tischler, E. Strelkov, K. Jones, A. Kolmakov, S.V. Kalinin. Nano Lett. 10, 4409 (2010)
- J. Wu, Q. Gu, B.S. Guiton, N.P. de Leon, L.Ouyang, H. Park. Nano Lett. 6, 2313 (2006)
- J. Wei, Z. Wang, W. Chen, D.H. Cobden. Nature Nanotechnol. 4, 420 (2009)
- В.Н. Андреев, В.А. Климов, М.Е. Компан. Письма в ЖТФ 39, 12, 57 (2013)
- J.S. Parker. Phys. Rev. B 42, 3, 3164 (1990)
- E. Strelkov, A. Tselev, I. Ivanov, J.D. Budai, J. Zhang, J.Z. Tishler, I. Kravchenko, S. Kalinin, A. Kolmakov. Nano Lett. 12, 6198 (2012)
- Р.А. Алиев, В.Н. Андреев, В.М. Капралова, В.А. Климов, А.И. Соболев, Е.Б. Шадрин. ФТТ 48, 874 (2006)
- R. Lopez, L.A. Boahter, T.E. Haynes, L.C. Feldman, R.F. Haglund, jr. Phys. Rev. B 65, 224 113 (2002)
- E.U. Donev, R. Lopez, L.C. Feldman, R.F. Haglund, jr. Nano Lett. 10, 702 (2009)
- K. Appavoo, D.Y. Lei, Y. Sonnefraud, B. Wang, S.T. Pantelides, S.A. Maier, R.F. Haglund, jr. Nano Lett. 12, 780 (2012)
- В.Н. Андреев, В.М. Капралова, В.А. Климов. ФТТ 49, 2209 (2007)
- В.Н. Андреев, В.А. Климов. ФТТ 52, 557 (2010)
- В.Н. Андреев, В.А. Климов, М.Е. Компан. ФТТ 54, 562 (2012)
- S. Lysenko, A. Rua, F. Fernandes, H. Liu. J. Appl. Phys. 105, 043 502 (2009)
- В.А. Климов, И.О. Тимофеева, С.Д. Ханин, Е.Б. Шадрин, А.В. Ильинский, З.Ф. Сильва-Андраде. ЖТФ 72, 9, 67 (2002)
- Е.Б. Шадрин, Д.А. Курдюков, А.В. Ильинский, В.Г. Голубев. ФТП 43, 1, 110 (2009)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
