-1 Исследована температурная зависимость концентрации alpha-фазы в поверхностных слоях выращенного из раствора кристалла кварца в интервале температур 290-820 K. Измерялась интенсивность полос 695.1, 785 и 1061.5 cm^-1 в спектрах varepsilon''(nu) затухания инфракрасного света. Обнаружено, что в поверхностном слое толщиной ~0.15 mum концентрация alpha-фазы при повышении температуры ведет себя, как и ожидается для фазового перехода первого рода: до 800 K она неизменна, а затем при T->846 K стремится к нулю. Однако на расстоянии от ~1 до 20 mum от поверхности концентрация alpha-фазы начинает уменьшаться уже при ~350 K, а при 812 K уменьшается в 5 раз. Одновременно растет интенсивность полосы 804 cm^-1, приписанной beta-фазе. "Размытие" фазового alpha-beta-перехода вызвано искажением кристаллической решетки кварца вокруг ростовых дислокаций. По смещению максимумов полос оценены внутренние напряжения в рассмотренных слоях. Установлено, что на расстояниях до ~1 mum от поверхности при 400 K формируются растягивающие напряжения, достигающие ~ 300-400 MPa. Под их влиянием в поверхностном слое макрокристалла образуются микротрещины, которые приводят к полному разрушению образца. Появление растягивающих напряжений связано с увеличением объема слоя макрокристалла, расположенного на расстоянии от поверхности от ~ 1 до 20 mum и вызванного ростом в нем концентрации beta-фазы. Одновременно в слое толщиной от ~1 до 20 mum при температуре выше 500 K развиваются напряжения сжатия, которые достигают максимального значения при ~ 650 K, а, затем уменьшаются при увеличении температуры. Сжатие обесловлено колебанием петель ростовых дислокаций в указанном диапазоне температур. Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ, грант N 130500010.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.