С помощью оригинальной методики, основанной на модуляции состояния поляризации излучения, проведено параллельное исследование явлений фоторефракции и фотодвулучепреломления в пленках стеклообразных полупроводников системы As-S. Показано различие механизмов возникновения этих явлений. Обнаружен и объяснен знакопеременный осциллирующий характер кинетики нарастания фотоиндуцировавной анизотропии пропускания (ФАП) длинноволнового света. Предложены интерференционные способы усиления ФАП и контраста пропускания в облученной и необлученных областях пленок.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.