Спектроскопия истинно-вторичных электронов с угловым разрешением для вольфрама с пониженной работой выхода
Выставление онлайн: 19 июня 1988 г.
С применением нового метода выделения тонкой структуры (ТС) спектров медленных вторичных электронов с угловым разрешением (СМВЭУР) изучены СМВЭУР для систем W (110)-Cs, W (110)-О-Cs. Показано, что ТС СМВЭУР при покрытиях Cs вплоть до оптимального по работе выхода определяется зонной структурой подложки. Наличие моноатомного слоя О ослабляет влияние Cs на проявление зонной структуры W в СМВЭУР. При покрытиях Cs, больших оптимального ТС, СМВЭУР определяется другими механизмами.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.