Физика твердого тела
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Теория сканирующей емкостной микроскопии
1Институт спектроскопии РАН, Троицк, Москва, Россия 
Email: lozovik@isan.
Поступила в редакцию: 3 июня 1999 г.
Выставление онлайн: 20 января 2000 г.
Рассматривается теория сканирующей емкостной микроскопии (СЕМ), применяющейся для исследования двумерного распределения неоднородностей в пленках, расположенных над металлическими подложками, а также рельефа проводящих поверхностей. Предложена реалистичная модель СЕМ, которая допускает аналитическое решение. Построено явное решение обратной задачи восстановления профиля неоднородностей в СЕМ. Подробно проанализированы эффекты, которые могли бы наблюдаться в связи с возбуждением собственных колебаний в системе пленка-игла зондового микроскопа. Данная работа была выполнена при поддержке РФФИ и программ "Поверхностные атомные структуры" и "Физика твердотельных наноструктур".
- Y. Martin, D.W. Abraham, H.K. Wickramasinghe. Appl. Phys. Lett. 52, 13, 1103 (1988)
- C.C. Williams, W.P. Hough, S.A. Rishton. Appl. Phys. Lett. 55, 2, 203 (1989)
- A.C. Diebold, M.R. Kump, J.J. Kopanski, D.G. Seiler. J. Vac. Sci. Techol. B14, 1, 196 (1996)
- G. Neubauer, A. Erickson, C.C. Williams, J.J. Kopanski, M. Rogers, D. Adderton. J. Vac. Sci. Techol. B14, 1, 426 (1996)
- A. Erickson, L. Sadwick, G. Neubauer, J.J. Kopanski, D. Adderton, M. Rogers. J. Electr. Mat. 25, 2, 301 (1996)
- R.C. Barrett, C.F. Quate. J. Appl. Phys. 70, 5, 2725 (1991)
- S.H. Tessmer, P.I. Glicofridis, R.C. Ashoori, L.S. Levitov, M.L. Melloch. Nature 392, 51 (1998)
- H. Drexler, D. Leonard, W. Hansen, J.P. Kotthaus, P.M. Petroff. Phys. Rev. Lett. 73, 16, 2252 (1994).
- G. Medeiros-Ribeiro, D. Leonard, P.M. Petroff. Appl. Phys. Lett. 66, 14, 1767 (1995)
- v S. Lanyi, J. Torok, P. v Rehuv rek. Rev. Sci. Instrum. 65, 7, 2258 (1994)
- K. Goto, K. Hane. Rev. Sci. Instrum. 68, 1, 120 (1997)
- В.А. Быков, В.В. Лосев, С.А. Саунин. Труды Всерос. совещ. "Зондовая микроскопия-99". Нижний Новгород (1999)
- S. Watanabe, K. Hane, T. Ohye, M. Ito, T. Goto. J. Vac. Sci. Technol. B11, 5, 1774 (1993)
- v S. Lanyi, J. Torok, P. v Rehuv rek. J. Vac. Technol. 14, 2, 892 (1996)
- K. Goto, K. Hane. J. Appl. Phys. 84, 8, 4043 (1998)
- Yu.E. Lozovik, A.V. Klyuchnik. The Dielectric Function of Condensed Systems / Ed. by L.V. Keldysh et al. Elsevier Science Publisher, B.V. (1987)
- В.А. Диткин, А.П. Прудников. Интегральные преобразования и операционное исчисление. Физматгиз (1961).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
