Обнаружено проникновение атомов гелия в деформированные в жидком гелии растяжением до разрыва аморфные эвтектические сплавы-пленки: Pd_84.5-Si_15.5 в ³He (T=0.5 K) и Ni₇₈-Si₈-B₁₄ в ⁴He (T=4.2 K). Изучены спектры выделения гелия из этих материалов после деформации, полученные при их динамическом отжиге (4-5 K/min) при T=293-1323 K.Максимальное количество гелия обнаружено в областях локализованных пластических микросдвигов, проходящих через всю ширину пленок, затем в частях образцов, содержащих макротрещины разрушения и отдельные группы полос скольжения. Спектры выделения гелия из различных областей разрушенных образцов показали наличие нескольких пиков, часть из которых коррелирует с температурами кристаллизации и плавления изученных пленок. Полученные данные анализируются на основе модели механо-химического проникновения атомов гелия по динамически возбужденным дислокационноподобным дефектам, характерным для исследованных аморфных пленок. Авторы выражают благодарность Российскому фонду фундаментальных исследований за частичную поддержку настоящей работы (грант N 99-03-32526).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.