Потенциальные изображения сегнетоэлектрических доменных структур в кристаллах ниобата лития после формирования электронным лучом
Поступила в редакцию: 21 февраля 2018 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2018 г.
В кристаллах ниобата лития с помощью низковольтной SEM-микроскопии исследовались сегнетоэлектрические доменные структуры, созданные электронным лучом. Структуры были сформированы в кристаллах с различной проводимостью - в высокоомных образцах конгруэнтного состава (CLN) и в образцах с проводимостью, улучшенной благодаря восстановительному отжигу (RLN). Проанализирована потенциальная природа контраста доменных структур, наблюдаемых в режиме вторичных электронов в зависимости от проводимости образцов и направления спонтанной поляризации доменов. Предполагается, что контраст доменов в кристаллах CLN связан с длительно сохраняющимися зарядами, локализованными у доменных стенок и в зонах облучения. Записанные доменные структуры в кристаллах CLN визуализировались на полярных и неполярных срезах. В кристаллах RLN с улучшенной, по сравнению с CLN, проводимостью потенциальный контраст периодических доменных структур был обнаружен только на полярных срезах, где вектор Ps доменов перпендикулярен облучаемой поверхности. Этот контраст, по-видимому, связан с влиянием поля зарядов спонтанной электрической поляризации на вторичные электроны. Работа выполнена в рамках государственного задания N 007-00220-18-00.
- P. Ferraro, S. Grilli, P.D. Natale. Ferroelectric Crystals for Photonic Applications. Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg (2009)
- J. He, S.H. Tang, Y.Q. Qin, P. Dong, H.Z. Zhang, C.H. Kang, W.X. Sun, Z.X. Shen. J. Appl. Phys. 93, 9943 (2003)
- M. Fujimura, K. Kintaka, T. Suhara, H. Nishihara. J. Light. Tech. 11, 1360 (1993)
- C. Restoin, S. Massy, C. Darraud-Taupiac, A. Barthelemy. Opt. Mater. 22, 193 (2003)
- J. Son, Y. Yuen, S. Orlov, L. Hesselink. J. Cryst. Growth 281, 492 (2005)
- P. Molina, M.O. Ramirez, J. Garcia-Sole, L.E. Bausa. Opt. Mater. 31, 1777 (2009)
- L. Mateos, L.E. Bausa, M.O. Ramirez. Appl. Phys. Lett. 102, 042910 (2013)
- L.S. Kokhanchik, M.V. Borodin, N.I. Burimov, S.M. Shandarov, V.V. Shcherbina, T.R. Volk. IEEE TUFFC 59, 1076 (2012)
- T.R. Volk, L.S. Kokhanchik, R.V. Gainutdinov, Ya.V. Bodnarchuk, S.M. Shandarov, M.V. Borodin, S.D. Lavrov, H. Liu, F. Chen. J. Lightwave Technology 33, 4761 (2015)
- D.S. Chezganov, E.O. Vlasov, M.M. Neradovskiy, L.V. Gimadeeva, E.A. Neradovskaya, M.A. Chuvakova, H. Tronche, F. Doutre, P. Baldi, M.P. De Micheli, V.Ya. Shur. Appl. Phys. Lett. 108, 192903 (2016)
- E. Soergel. Appl.Phys. B 81, 729 (2005)
- R. Prashant Potnis, Nien-Ti Tsou, John E. Huber. Materials 4, 417 (2011)
- R. Le Bihan. Ferroelectrics 97, 19 (1989)
- R. Le Bihan, M. Maussion. Ferroelectrics 7, 307 (1974)
- S. Ikeda, Y. Uchikawa. J. Electron Microscopy 29, 209 (1980)
- G. Rosenman, A. Skliar, I. Lareah, N. Angert, M. Tseitlin, M. Roth. Phys. Rev. B 54, 6222 (1996)
- S. Zhu, W. Cao. Phys. Status Solidi A 173, 495 (1999)
- V.V. Aristov, L.S. Kokhanchik, V.G. Monya. Ferroelectrics 70, 15 (1986)
- A.A. Sogr. Ferroelectrics 97, 47 (1989)
- V.V. Aristov, L.S. Kokhanchik, K.-P. Meyer, K. Blumtritt. Phys. Status Solidi A 78, 229 (1983)
- L.S. Kokhanchik. Micron 40, 41 (2009)
- J. Li, H.X. Yang, H.F. Tian, C. Ma, S. Zhang, Y.G. Zhao, J.Q. Li. Appl. Phys. Lett. 100, 152903 (2012)
- J.M. Saldana, J.M.C. Moreno, G.A. Schneider. Key Eng. Mater. 264-268, 1185 (2004)
- P.F. Bordui, D.H. Jundt, E.M. Standifer, R.G. Norwood, R.L. Sawin, J.D. Galipeau. J. Appl. Phys. 85, 3766 (1999)
- L.S. Kokhanchik, R.V. Gainutdinov, S.D. Lavrov, E.D. Mishina, T.R. Volk. Ferroelectrics 480, 49 (2015)
- L.S. Kokhanchik, M.N. Palatnikov, O.B. Shcherbina. Phase Transitions 84, 797 (2011)
- J. Cazaux. J. Appl. Phys. 85, 1137 (1999)
- Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье / Пер. с франц. под ред. И.Б. Боровского. Металлургия, М. (1985). 392 с
- K. Tanaka, T. Suhara. Electronics Lett. 51, 923 (2015)
- J.P. Vigouroux, J.P. Duraud, A. Le Moel, C. Le Gressus, D.L. Griscorn. J. Appl. Phys. 57, 3195 (1985)
- O. Norio, I. Takashi. J. Appl. Phys. 46, 1063 (1975)
- L.S. Kokhanchik, Ya.V. Bodnarchuk, T.R. Volk. J. Appl. Phys. 122, 104105 (2017)
- И.М. Бронштейн, Б.С. Фрайман. Вторичная электронная эмиссия. Наука, М. (1969) 408 c
- H. Seiler. J. Appl. Phys. 54, R1 (1983)
- T. Volk, M. Woehlecke. Lithium niobate: defects, photorefraction and ferroelectric switching. Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg (2008). 247 p
- J. Cazaux. J. Appl. Phys. 59, 1418 (1986)
- S. Fakhfakh, O. Jbara, S. Rondot, A. Hadjadj, J.M. Patat, Z. Fakhfakh. J. Appl. Phys. 108, 093705 (2010)
- L.S. Kokhanchik, R.V. Gainutdinov, S.D. Lavrov, T.R. Volk. J. Appl. Phys. 118, 072001 (2015)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.