Фотоэмиссионные исследования электронной структуры GaN, выращенного методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота
Государственное задание Министерства образования и науки Российской Федерации, 16.9789.2017/БЧ
Сколтех, 3663-МРА, проект 4
Тимошнев С.Н.1, Мизеров А.М.1, Бенеманская Г.В.2, Кукушкин С.А.3, Буравлев А.Д.1
1Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
Email: timoshnev@mail.ru
Поступила в редакцию: 16 июля 2019 г.
В окончательной редакции: 16 июля 2019 г.
Принята к печати: 25 июля 2019 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2019 г.
Представлены результаты экспериментальных исследований электронных и фотоэмиссионных свойств эпитаксиального слоя GaN, выращенного методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота на подложке SiC/Si(111). Электронная структура поверхности GaN и ультратонкого интерфейса Li/GaN была впервые исследована in situ в условиях сверхвысокого вакуума при различных покрытиях Li. Эксперименты проводились с использованием фотоэлектронной спектроскопии при синхротронном излучении в диапазоне энергий фотонов 75-850 eV. Спектры фотоэмиссии в области валентной зоны и поверхностных состояний и спектры фотоэмиссии из остовных уровней N 1s, Ga 3d, Li 2s были изучены при различных субмонослойных покрытиях Li. Установлено, что адсорбция Li вызывает существенные изменения в общем виде спектров, вызванные переносом заряда между слоем Li и нижними слоями N и Ga. Установлено, что поверхность GaN имеет преимущественно N-полярность. Показан полупроводниковый характер интерфейса Li/GaN. Ключевые слова: нитрид галлия, структура валентной зоны, фотоэлектронная спектроскопия.
- A. Chakraborty, B.A. Haskell, S. Keller, J.S. Speck, S.P. DenBaars, S. Nakamura, U.K. Mishra. Jpn. J. Appl. Phys. 44, L173 (2005)
- S.P. DenBaars, D. Feezell, K. Kelchner, S. Pimputkar, C.C. Pan, C.C. Yen, S. Tanaka, Y. Zhao, N. Pfaff, R. Farrell, M. Iza. Acta Mater. 61, 945 (2013)
- W.R.L. Lambrecht, B. Segall, S. Strite, G. Martin, A. Agarwal, H. Morkoc, A. Rockett. Phys. Rev. B. 50, 14155 (1994)
- T. Strasser, C. Solterbeck, F. Starrost, W. Schattke. Phys. Rev. B. 60, 11577 (1999)
- G.V. Benemanskaya, M.N. Lapushkin, S.N. Timoshnev. Surf. Sci. 603, 2474 (2009)
- D. Yujie, C. Benkang, W. Xiaohui, Z. Junju, L. Biao, W. Meishan. Appl. Surf. Sci. 258, 7425 (2012)
- M. Lozac, S. Ueda, S. Liu, H. Yoshikawa, S. Liwen, X. Wang, B. Shen, K. Sakoda, K. Kobayashi, M. Sumiya. Sci. Technol. Adv. Mater. 14, 015007 (2013)
- A. Eisenhardt, S. Krischok, M. Himmerlich. Appl. Phys. Lett. 102, 231602 (2013)
- D. Skuridina, D.V. Dinh, B. Lacroix, P. Ruterana, M. Hoffmann, Z. Sitar, M. Pristovsek, M. Kneissl, P. Vogt. J. Appl. Phys. 114, 173503 (2013)
- R. Wasielewski, M. Grodzicki, J. Sito, K. Lament, P. Mazur, A. Ciszewski. Acta Phys. Pol. A. 132, 354 (2017)
- C.I. Wu, A. Kahn. Appl. Surf. Sci. 162--163, 250 (2000)
- F. Machuca, Y. Sun, Z. Liu, K. Ioakeimidi, P. Pianetta, R.F.W. Pease. J. Vac. Sci. Technol. B. 18, 3042 (2000)
- T.U. Kampen, M. Eyckeler, W. Moench. Appl. Surf. Sci. 123--124, 28 (1998)
- G.V. Benemanskaya, S.А. Kukushkin, P.A. Dementev, M.N. Lapushkin, S.N. Timoshnev, D.V. Smirnov. Solid State Commun. 271, 6 (2018)
- G.V. Benemanskaya, S.N. Timoshnev, S.V. Ivanov, G.E. Frank-Kamenetskaya, D.E. Marchenko, G.N. Iluridze. JETP. 118, 600 (2014)
- S.A. Kukushkin, A.V. Osipov. J. Appl. Phys. 113, 0249091 (2013)
- S.A. Kukushkin, A.M. Mizerov, A.V. Osipov, A.V. Redkov, S.N. Timoshnev. Thin Solid Films. 646, 158 (2018).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.