Эффекты памяти и нелинейная электропроводность легированного перовскитоподобного ферритов лантана-стронция La0.5Sr0.5Fe0.75Al0.2Ni0.05O3-delta
Петухова Э.А.
1, Хартон В.В.
1, Кведер В.В.
11Институт физики твердого тела РАН, Черноголовка, Россия
Email: elina.petukhova@issp.ac.ru, kharton@issp.ac.ru, kveder@issp.ac.ru
Поступила в редакцию: 12 сентября 2022 г.
В окончательной редакции: 12 сентября 2022 г.
Принята к печати: 24 сентября 2022 г.
Выставление онлайн: 12 ноября 2022 г.
Проведен анализ наличия эффектов памяти в модельных гетероструктурах на основе легированного феррита La0.5Sr0.5Fe0.75Al0.2Ni0.05O3-delta со структурой перовскита. Показано, что слой феррита толщиной 5-10 μm, зажатый между Pt и Ni электродами, проявляет аналоговый мемристорный эффект. При положительной полярности происходит плавное увеличение проводимости, а при отрицательной полярности - ее плавное уменьшение. Данный эффект предположительно связан с изменением локальных концентраций вакансий кислорода за счет их дрейфа в электрическом поле. Поскольку ферриты лантана-стронция обладают хорошей устойчивостью к изменению стехиометрии по кислороду, в данной системе удается избежать роста дендритов. Зависимости тока от напряжения обладают сильной нелинейностью, связанной с эффектом Пула-Френкеля уменьшением энергии активации захваченных на кислородные вакансии дырок. Однако, помимо эффекта Пула-Френкеля, в системе наблюдается увеличение предэкспоненциального фактора температурной зависимости электропроводности под действием поля, которое может объясняться увеличением эффективной подвижности дырок. Ключевые слова: перовскит, ферриты лантана-стронция, эффекты памяти, нелинейный электронный транспорт, мемристоры.
- M. Prezioso, F. Merrikh-Bayat, B.D. Hoskins, G.C. Adam, K.K. Likharev, D.B. Strukov. Nature 521, 7550, 61 (2015)
- W. Zhang, B. Gao, J. Tang, P. Yao, S. Yu, M-F. Chang, H.-J. Yoo, H. Qian, H. Wu. Nature Electronics 3, 7, 371 (2020)
- M.A. Zidan, J.P. Strachan, W.D. Lu. Nature Electronics 1, 1, 22 (2018).
- B. Kim, S. Jo, W. Sun, H. Shin. J. Nanosci. Nanotechnology 19, 10, 6703 (2019)
- В.А. Чеснаков, В.В. Кведер. Письма в ЖЭТФ 58, 210 (1993)
- D. Xu, X.N. Shangguan, S.M. Wang, H.T. Cao, L.Y. Liang, H.L. Zhang, J.H. Gao, W.M. Long, J.R. Wang, F. Zhuge. AIP Advances 7, 2, 025102 (2017)
- O. Kavehei, A. Iqbal, Y.S. Kim, K. Eshraghian, S.F. Al-Sarawi, D. Abbott. Proc. Royal Society A 466, 2120, 2175 (2010)
- N.I. Mou, Y. Zhang, P. Pai, M. Tabib-Azar. Solid-State Electron. 127, 20 (2017)
- Z.-M. Liao, C. Hou, Q. Zhao, D.-S. Wang, Y.-D. Li, D.-P. Yu. Small 5, 21, 2377 (2009)
- F. Gul. Ceram. Int. 44, 11417 (2018)
- M.K. Rahmani, B.-D. Yang, H.W. Kim, H. Kim, M.H. Kang. Semicond. Sci. Technol. 36, 095031 (2021)
- G. Zhou, X.Yang, L. Xiao, B. Sun, A. Zhou. Appl. Phys. Lett. 114, 163506 (2019)
- L. Jamilpanah, I. Khademi, J.S. Gharehbagh, S.A. Mohseni, S.M. Mohseni. J. Alloys Comp. 835, 155291 (2020).
- O.A. Novodvorsky, L.S. Parshina, A.A. Lotin, V.A. Mikhalevsky, O.D. Khramova, E.A. Cherebylo, V.Ya. Panchenko. J. Surf. Investigat.: X-ray, Synchrotron Neutron Techniques 12, 2, 322 (2018)
- R. Bruchhaus, R. Waser. Thin Film Metal-Oxides. Springer US, Boston, MA (2010). 131 c
- J.L.M. Rupp, P. Reinhard, D. Pergolesi, Th. Ryll, R. Tolke, E. Traversa. Appl. Phys. Lett. 100, 012101 (2012)
- Y.V. Pershin, M. Di Ventra. Adv. Phys. 60, 145 (2011)
- A.A. Felix, J.L.M. Rupp, J.A. Varela, M.O. Orlandi. J. Appl. Phys. 112, 054512 (2012)
- Y. Li, J. Chu, W. Duan, G. Cai, X. Fan, X. Wang, G. Wang, Y. Pei. ACS Appl. Mater. Interfaces 10, 29, 24598 (2018)
- M.M. Gois, M.A. Mac\^edo. J. Mater. Sci.: Mater. Electron. 31, 5692 (2020)
- A. Markeev, A. Chouprik, K. Egorov, Yu. Lebedinskii, A. Zenkevich, O. Orlov. Microelectron. Eng. 109, 342 (2013)
- X. Yan, J. Zhao, S. Liu, Zh. Zhou, Q. Liu, J. Chen, X.Y. Liu. Adv. Functional Mater. 28, 1705320 (2018)
- E. Yoo, M. Lyu, J.-H. Yun, Ch. Kang, Y. Choi, L. Wang. J. Mater. Chem. C 4, (2016)
- J.-H. Ryu, F. Hussain, Ch. Mahata, M. Ismail, Y. Abbas, M.-H. Kim, Ch. Choi, B.-G. Park, S. Kim. Appl. Surf. Sci. 529, 147167 (2020)
- L. Wang, Y. Du, P.V. Sushko, M.E. Bowden, K.A. Stoerzinger, S.M. Heald, M.D. Scafetta, T.C. Kaspar, S.A. Chambers. Phys. Rev. Mater. 3, 025401 (2019)
- V.V. Kharton, A.V. Kovalevsky, M.V. Patrakeev, E.V. Tsipis, A.P. Viskup, V.A. Kolotygin, A.A. Yaremchenko, A.L. Shaula, E.A. Kiselev, J.C. Waerenborgh. Chem. Mater. 20, 20, 6457 (2008)
- V.V. Kharton, J.C. Waerenborgh, A.P. Viskup, S.O. Yakovlev, M.V. Patrakeev, P. Gaczynski, I.P. Marozau, A.A. Yaremchenko, A.L. Shaula, V.V. Samakhval. J. Solid State Chem. 179, 1273 (2006)
- V.V. Kharton, M.V. Patrakeev, J.C. Waerenborgh, A.V. Kovalevsky, Y.V. Pivak, P. Gaczynski, A.A. Markov, A.A. Yaremchenko. J. Phys. Chem. Solids 68, 355 (2007)
- L.A. Chick, L.R. Pederson, G.D. Maupin, J.L. Bates, L.E. Thomas, G.J. Exarhos. Mater. Lett. 10, 6 (1990)
- E.V. Tsipis, E.A. Kiselev, V.A. Kolotygin, J.C. Waerenborgh, V.A. Cherepanov, V.V. Kharton. Solid State Ionics 179, 2170 (2008)
- O. Mitrofanov, M. Manfra. J. Appl. Phys. 95, 11, 6414 (2004)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.