Письма в журнал технической физики
Электронная почта:
tpl@journals.ioffe.ru
English translations
Журналы
Журнал технической физики
Письма в Журнал технической физики
Физика твердого тела
Физика и техника полупроводников
Оптика и спектроскопия
Поиск
Войти
Письма в журнал технической физики
Описание журнала
Редакционная коллегия
Статистика
Переводная версия
Авторам
Правила оформления публикаций
Вышедшие номера
2024
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
2023
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2022
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2021
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2020
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2019
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2018
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2017
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2016
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2015
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2014
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2013
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2012
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2011
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2010
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2009
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2008
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2007
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2006
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2005
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2004
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2003
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2002
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2001
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2000
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1999
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1998
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1997
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1996
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1995
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1994
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1993
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1992
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1991
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1990
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1989
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1988
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
Home
»
Письма в журнал технической физики
»
Год 1997, выпуск 14
<<<
>>>
Письма в журнал технической физики, 1997, том 23, выпуск 14
Зуев А.Д., Смолин А.Г.
Применение сверхвысокочастотной двухпроводной линии, расположенной на границе с исследуемой зоной, для измерения концентрации электронов в низкотемпературной плазме
1
Ельяшевич А.М., Ионов А.Н., Тучкевич В.М., Борисова М.Э., Галюков О.В., Койков С.Н.
Локальная металлическая проводимость тонких пленок полиимида как результат "мягкого" электрического пробоя
8
Латышев А.В., Юшканов А.А.
Тепловое и изотермическое скольжение в новом модельном кинетическом уравнении Лиу
13
Махний В.П., Барасюк Я.Н.
Интегральный детектор ионизирующих излучений на основе гетероперехода сульфид-теллурид кадмия
17
Какичашвили Ш.Д., Килосанидзе Б.Н.
О модификации скалярного дифракционного интеграла Кирхгофа
21
Бланк В.Д., Попов М.Ю., Львова Н.А., Гоголинский К.В., Решетов В.Н.
Пластичность алмаза при комнатной температуре и определение его твердости в атомно-силовом микроскопе наконечником из ультратвердого фуллерита C
60
25
Жигадло Н.Д., Петрашко В.В., Семененко Ю.А., Прыткова Н.А.
Влияние режимов термообработки на фазовый состав и сверхпроводящие свойства Bi
1.6
Pb
0.4
Sr
1.98
K
0.02
Ca
2
Cu
3
F
0.8
O
y
керамики
30
Горин Ю.Ф., Мельникова Н.В., Баранова Е.Р., Кобелева О.Л.
О влиянии ионной проводимости на упругие характеристики четырехкомпонентных халькогенидов меди и серебра
35
Коромыслов В.А., Рахманова Ю.Д., Ширяева С.О.
Исследование влияния величины сфероидальной деформации на устойчивость капли, заряженной ниже рэлеевского предела
40
Псахье С.Г., Зольников К.П.
Об аномально высокой скорости перемещения границ зерен при высокоскоростном сдвиговом нагружении
44
Шуаибов А.К., Шимон Л.Л., Миня А.И., Дащенко А.И.
Исследование характеристик модуля электрической прокачки импульсно-периодического лазера на молекулах ArF
*
, KrF
*
и XeF
*
49
Алексеев Э.И., Базаров Е.Н.
Интерферометрия белого света с деполяризацией излучения
56
Подошведов С.А.
Появление пространственной неустойчивости при параметрическом четырехволновом взаимодействии с диагонально-биполярным откликом среды
61
Кальянов Э.В.
Возбуждение потенциально автоколебательного состояния в генераторе с запаздыванием и инерционностью при одновременном воздействии регулярного и хаотического сигналов
66
Головинский П.А.
Рождение пар на встречных электрон-лазерных пучках
72
Алексеев Э.И., Базаров Е.Н.
Повышение точности волоконных интерферометров при использовании в них ответвителей с большой спектральной силой или отсечкой антисимметричной супермоды
76
Мишин Г.И.
Уравнение состояния слабоионизованной газоразрядной плазмы
81
Куликов Д.В., Суворов А.Л., Сурис Р.А., Трушин Ю.В., Харламов В.С.
Физическая модель формирования периодической структуры на поверхности пиролитического графита при высокоэнергетическом ионном облучении
89
Учредители
Российская академия наук
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
Издатель
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
© 2024
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук