Письма в журнал технической физики
Электронная почта:
tpl@journals.ioffe.ru
English translations
Журналы
Журнал технической физики
Письма в Журнал технической физики
Физика твердого тела
Физика и техника полупроводников
Оптика и спектроскопия
Поиск
Войти
Письма в журнал технической физики
Описание журнала
Редакционная коллегия
Статистика
Переводная версия
Авторам
Правила оформления публикаций
Вышедшие номера
2024
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
2023
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2022
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2021
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2020
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2019
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2018
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2017
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2016
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2015
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2014
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2013
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2012
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2011
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2010
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2009
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2008
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2007
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2006
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2005
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2004
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2003
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2002
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2001
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2000
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1999
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1998
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1997
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1996
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1995
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1994
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1993
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1992
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1991
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1990
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1989
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1988
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
Home
»
Письма в журнал технической физики
»
Год 2012, выпуск 12
<<<
>>>
Письма в журнал технической физики, 2012, том 38, выпуск 12
Алисултанов З.З., Мейланов Р.П., Нухов А.К., Мусаев Г.М., Идаятов Э.И.
Электронные состояния системы "квантовая точка-монослой графена-подложка SiO
2
+n
+
Si"
1
Шаповалов В.И., Лапшин А.Е., Комлев А.Е., Комлев А.А.
Кристаллизация и термохромизм в пленках оксида вольфрама, отожженных в вакууме
8
Майер П.Н., Майер А.Е.
Исследование распределения по размеру капель в испаренном под действием сильноточного электронного пучка металле
17
Конашук А.С., Соколов А.А., Дрозд В.Е., Романов А.А., Филатова Е.О.
Изучение влияния пористой подложки SiO
2
на свойства пленок Al
2
O
3
с помощью рентгеновской рефлектометрии
24
Аульченко С.М., Замураев В.П., Калинина А.П.
Сравнительный анализ влияния различных моделей подвода энергии на волновое сопротивление трансзвукового профиля
30
Винтизенко И.И.
Тепловые режимы работы релятивистских магнетронных генераторов
37
Браташов Д.Н., Климова С.А., Сердобинцев А.А., Маляр И.В., Стецюра С.В.
Создание микронных областей с измененными люминесцентными свойствами и топологией на пленках CdS
x
Se
1-x
посредством лазерного отжига
45
Данилов Ю.Ю.
Входной резонатор гироклистрона на несимметричных модах высокого порядка
53
Мунина И.В., Тургалиев В.М., Вендик И.Б.
Перестраиваемые терагерцовые метаматериалы с использованием электрически управляемых пьезоэлектрических актюаторов
59
Солнцев С.А., Капустин Д.В., Захаров А.К.
Методика измерения дрейфовой подвижности ионов органических соединений с использованием дрейфового диода
66
Гавренков С.А., Гвоздева Л.Г.
Численное исследование возникновения неустойчивости трехударных конфигураций в стационарном сверхзвуковом потоке газа
74
Усанов Д.А., Скрипаль А.В., Кащавцев Е.О., Калинкин М.Ю.
Измерение амплитуды нановибраций с помощью полупроводникового лазерного автодина с учетом влияния обратной связи
81
Кощеев В.П., Моргун Д.А., Штанов Ю.Н.
Моделирование процесса отклонения протонов и pi
-
-мезонов кристаллом кремния
87
Учредители
Российская академия наук
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
Издатель
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
© 2024
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук