Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2005, выпуск 1 » Статья стр. 73
<<<>>>
Реакция электросопротивления пленок (40 nm)La0.67Ca0.33MnO3 на увеличение рассогласования в параметрах кристаллических решеток с подложкой
Бойков Ю.А.1, Данилов В.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: yu.boikov@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 14 июля 2004 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2004 г.
PDF версия
Исследованы структура и электросопротивление rho пленок La0.67Ca0.33MnO3, выращенных когерентно на пластинах (001)La0.29Sr0.71Al0.65Ta0.35O3, покрытых эпитаксиальной прослойкой из титаната стронция толщиной 7 или 70 nm. С увеличением эффективного рассогласования в параметрах кристаллических решеток манганитной пленки и подложки наблюдалось резкое увеличение rho, а максимум на зависимости rho(T) сдвигался (~ 40 K) в сторону низких температур. При T<150 K температурные зависимости электропроводности пленок La0.67Ca0.33MnO3 следовали соотношению rho~ rho1· T4.5, причем коэффициент rho1 убывал как с увеличением напряженности магнитного поля, так и с уменьшением рассогласования в параметрах кристаллических решеток манганитной пленки и подложки.
  1. Tokura Y. // Colossal Magnetoresistive Oxides / Ed. by Y. Tokura, Gordon and Breach Science Publishers. Amsterdam, The Netherlands, 2000. P. 2
  2. Parkin S.S.P., Roche K.P., Samant M.G., Rice P.M., Beyers R.B., Scheuerlein R.E., O'Sullivan E.J., Brown S.L., Bucchigano J., Abraham D.W., Lu Y., Rooks M., Trouilloud P.L., Wanner R.A., Gallagher W.J. // J. Appl. Phys. 1999. V. 85. N 8. P. 5828
  3. Goyal A., Rajeswari M., Shreekala R., Lofland S.E., Bhagat S.M., Boettcher T., Kwon C., Ramesh R., Venkatesan T. // Appl. Phys. Lett. 1997. V. 71. N 17. P. 2535
  4. Бойков Ю.А., Клаесон Т., Бойков А.Ю. // ЖТФ. 2001. Т. 71. В. 10. С. 54
  5. Бойков Ю.А., Клаесон Т., Бойков А.Ю. // ФТТ. 2003. Т. 45. В. 6. С. 1040
  6. Бойков Ю.А., Данилов В.А. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. В. 13. С. 12
  7. Boikov Yu.A., Gunnarsson R., Claeson T. // J. Appl. Phys. 2004 (in press)
  8. Спецификация компании Кристек, поставившей подложки LSATO
  9. Kamins T.I. // J. Appl. Phys. 1971. V. 42. N 9. P. 4357
  10. Wyckoff R.W.G. // Crystal Structures. V. 2. 2nd Edition, Interscience, New York, 1964. P. 394
  11. Lu C.J., Wang Z.L., Kwon C., Jia Q.X. // J. Appl. Phys. 2000. V. 88. N 7. P. 4032
  12. Kubo K., Ohata N. // J. Phys. Soc. Jpn. 1972. V. 33. N 1. P. 21
  13. Snyder G.J., Hiskes R., DiCarolis S., Beasley M.R., Geballe T.H. // Phys. Rev. B. 1996. V. 53. N 21. P. 14434

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme