Эффективная плотность и транспортные свойства компактированных углеродных нанотрубок и нановолокон
Золотухин И.В.1, Голев И.М.1, Маркова А.Е.1, Блинов С.Н.1, Гришин Д.А.1, Раков Э.Г.1
1Воронежский государственный технический университет Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева, Воронеж
Email: paul@zolot.vrn.ru
Поступила в редакцию: 20 сентября 2004 г.
Выставление онлайн: 20 января 2005 г.
Представлены результаты исследований эффективной плотности, электропроводности и термо-э.д.с. компактированных углеродных нанотрубок (УНТ) и нановолокон (УНВ). Эффективная плотность УНТ и УНВ равна 1.6 и 2.8 g/cm3 соответственно. Значения термо-э.д.с. скомпактированных УНТ (33 muV/K) и УНВ (7-8 muV/K) указывают на возможность использования их для датчиков газообразных веществ и биологических объектов. УНВ и УНТ предлагается использовать в качестве наполнителей в клеи для увеличения прочности и электропроводности, необходимых при склеивании металлических материалов.
- Baughman R.H., Zakhidov A.A., de Heer W.A. // Science. 2001. V. 297. P. 787--792
- Avouris Ph. // Chem. Phys. 2002. V. 281. N 2--3. P. 429--445
- Odon T.M., Huang J.-L., Lieber C.M. // Ann. N.Y. Sci. 2002. V. 960. N 1. P. 203--215
- Раков Э.Г. // Химическая технология. 2003. В. 10. С. 2--7
- Раков Э.Г., Блинов С.Н., Иванов И.Г., Ракова Е.В., Дигуров Н.Г. // Ж. прикл. химии. 2004. Т. 77. В. 2. С. 193--196
- Shimoda H., Sue J. Oh, Jeng H.J. // Adv. Mater. 2002. V. 14. N 12. P. 899--901
- Tang S., Zhong Z., Xijng Z. et al. // Chem. Phys. Lett. 2001. V. 350. P. 19
- Золотухин И.В., Голев И.М., Попов А.А. и др. // Письма в ЖТФ. 2002. Т. 28. В. 16. С. 32--36
- Майцуй Л.Ю., Овсиенко И.В., Вовченко Л.Л. // ФНТ. 2001. Т. 27. N 1. С. 68--72
- Sumanasekera J. et al. // Phys. Rev. B. 2001. V. 65. P. 035408/1--035408/4/
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук