Вышедшие номера
Новый тип металлоксидных бикристаллических джозефсоновских переходов с высокими критическими параметрами
Котелянский И.М.1,2, Борисенко И.В.1,2, Шадрин А.В.1,2, Овсянников Г.А.1,2, Лузанов В.А.1,2, Комиссинский Ф.В.1,2
1Институт радиотехники и электроники РАН, Москва
2Чалмерский технологический университет, Гётеборг, Швеция
Email: imk216@ire216.msk.su
Поступила в редакцию: 28 сентября 2004 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2005 г.

Предложен и исследован новый тип пленочных бикристаллических джозефсоновских переходов из металлоксидного высокотемпературного сверхпроводника YBa2Cu3O7-x, у которого в отличие от переходов известных типов рабочие поверхности, расположенные по разные стороны бикристаллической границы, различаются кристаллографической ориентацией. Одна из них - (001) YBa2Cu3O7-x, а другая - разориентирована относительно нее на асимметричный бикристаллический угол вокруг направления, лежащего в плоскости подложки. Представлены результаты исследований основных электрофизических и динамических (СВЧ) параметров переходов такого типа, изготовленных на соответствующих бикристаллических подложках NdGaO3 с углами разориентации от 13 до 28o. Получены высокие значения критических параметров при T=77 K: плотности критического тока IC=(2/ 5)· 105 A/cm2 и характерного напряжения VC=ICRN=0.6/ 0.9 mV. Отмечаются преимущества предлагаемого типа бикристаллических джозефсоновских переходов перед известными.