Рентгенотопографический контраст краевых дислокаций, перпендикулярных поверхности кристалла 6H-SiC
Окунев А.О., Шульпина И.Л.
Email: iren.shulpina@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 17 февраля 2005 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2005 г.
Описаны особенности рентгенотопографических изображений краевых дислокаций, перпендикулярных поверхности (0001) монокристалла 6H-SiC. Проводится сопоставление контраста, полученного методом аномального прохождения рентгеновских лучей и методом секционной топографии в геометрии прохождения.
- Данильчук Л.Н., Дроздов Ю.А., Окунев А.О. и др. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2002. Т. 68. N 11. С 24--33
- Ткаль В.А., Окунев А.О., Дроздов Ю.А. и др. // Поверхность. 2004. N 1. С. 32--38
- Трегубова А.С., Шульпина И.Л. // ФТТ. 1972. Т. 14. N 9. С. 2670--2674
- Suvorov E.V., Polovinkina V.I., Nikitenko V.I. et al. // Phys. stat. sol. (a). 1974. V. 26. P. 385--394
- Инденбом В.Л., Чуховский Ф.Н. // УФН. 1972. Т. 107. N 2. С. 229--265
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук