Селективный разогрев мягкой моды в сегнетоэлектрической пленке
Прудан А.М.1,2, Мезенов А.В.1,2, Ктиторов С.А.1,2
1Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: AMPrudan@mail.eltech.ru
Поступила в редакцию: 3 ноября 2006 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2007 г.
Представлены результаты исследования влияния электромагнитного излучения с частотой f~ 0.3 THz на температуру подсистемы фононов мягкой моды в пленке (Ba,Sr)TiO3. Особенности температурных режимов в сегнетоэлектрическом конденсаторе были выявлены с помощью емкостного термометра и термопары. Обнаружено что при интенсивности накачки (~ 6 mW/mm2) перегрев фононов мягкой моды, оцениваемый по изменению емкости планарного конденсатора, превышает интегральный перегрев конденсатора, обнаруженный с помощью термопары. Проанализированы условия для неравновесного состояния подсистемы фононов мягкой моды в сегнетоэлектрической пленке. PACS: 77.80.-e
- Аронов А.Г., Гуревич В.Л. // ФТТ. 1972. Т. 14. С. 2675
- Ostapchuk T., Petzelt J. // Ferroelectrics. 2002. V. 267. P. 93
- Ostapchuk T., Petzelt J. et al. // Phys. Rev. B. 2002. V. 66. P. 235406
- Tenne D.A., Soukiassian A. et al. // J. Appl. Phys. 2004. V. 96. P. 6597
- Tkach A., Vilarinho P.M. et al. // J. Appl. Phys. 2005. V. 97. P. 044104
- Petzelt J., Ostapchuk T. et al. // Phys. Rev. B. 2001. V. 64. P. 184111
- Вакс В.Г. Введение в микроскопическую теорию сегнетоэлектриков. М.: Наука, 1973
- Kozyrev A., Ivanov A. et al. // J. Appl. Phys. 2000. V. 88. P. 5334
- Гуревич В.Л. Кинетика фононных систем. М.: Наука, 1980
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.