Высокочастотный УФ-ВУФ излучатель на смеси аргона с молекулами хлора
Шуаибов А.К.1, Шимон Л.Л.1, Шевера И.В.1, Волович П.Н.1
1Ужгородский национальный университет, Украина
Email: ishev@univ.uzhgorod.ua
Поступила в редакцию: 14 мая 2007 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2007 г.
Приведены оптические характеристики коротковолновой лампы, которая излучает в спектральном диапазоне 150-270 nm. Рабочей средой лампы является смесь аргона с молекулами хлора, которая возбуждалась в поперечном высокочастотном разряде. Разряд зажигался между металлическим электродом и полупрозрачной никелевой сеткой при межэлектродном расстоянии 2.2 cm. Источник излучал на спектральных полосах молекул хлора и хлорида аргон, на основании которых формировался континуум в спектральном диапазоне 150-270 nm. Проведена оптимизация излучения лампы в зависимости от величины мощности источника возбуждения, давления и состава смеси Ar-Cl2. При мощности источника возбуждения разряда в диапазоне 50-300 W наиболее оптимальными были смеси P(Ar)-P(Cl2)=(300-400)-(30-40) Pa. Средняя мощность ВУФ-УФ излучения достигала 15 W. PACS: 52.30.Hc
- Шуаiбов О.К., Шевера I.В., Шимон Л.Л., Соснин Е.А. Сучаснi джерела ультрафiолетового випромiнювання: розробка i застосування. Ужгород--Томськ: Видавництво УжНУ "Говерла", 2006. 223 с
- Ломаев М.И., Скакун В.С., Соснин Э.А., Тарасенко В.Ф. и др. // УФН. 2003. Т. 173. N 2. С. 201--217
- Шуаибов А.К., Дащенко А.И., Шевера И.В. // Квантовая электроника. 2001. Т. 31. N 4. С. 371--372
- Von C. Sonntag. Process Technologies for Water Treatment. / S. Stucki, Ed. New York: Plenum Press, 1987
- Shuaibov A.K., Shimon L.L., Dashchenko A.I., Shevera I.V. // Ukr. J. Phys. 2004. V. 49. N 2. P. 121--125
- Шуаибов А.К., Шимон Л.Л., Дащенко А.И., Шевера И.В. // ПТЭ. 2002. N 1. С. 104--106
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук