Влияние геометрических размеров на кинематические параметры нанотолщинных бислойных пленок
Псахье С.Г.1, Руденский Г.Е.1, Железняков А.В.1, Меньщикова Т.В.1, Дмитриев А.И.1, Зольников К.П.1
1Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, Томск, Россия
Email: kost@ispms.tsc.ru
Поступила в редакцию: 8 октября 2008 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2009 г.
Методом молекулярной динамики проведено изучение поведения нанотолщинных бислойных пленок (пластин) конечной длины, сформированных из кристаллических пленок Ni-Cu. Межатомное взаимодействие описывалось в рамках метода погруженного атома. Показано, что формируемые наноструктуры в отсутствие внешних воздействий совершают механические колебания. Амплитуда и частота колебаний зависят от длины и толщины исходной пластины. Установлены зависимости параметров колебаний наноструктур от их геометрических размеров. Полученные закономерности представляют интерес при конструировании компонентов наноустройств различного функционального назначения. PACS: 62.25.Jk
- Пул Ч., Оуэнс Ф. Нанотехнологии. М.: Техносфера, 2005. 336 с
- Eric Vogel // Nature nanotechnology. 2007. V. 2. N 1. P. 25--32
- Nastaushev Yu.V., Pronz V.Ya., Svitasheva S.N. // Nanotechnology. 2005. V. 16. P. 908--912
- Дмитриев А.И., Псахье С.Г. // Письма в ЖТФ. 2006. Т. 32. В. 15. С. 40--44
- Мелькер А.И., Корнилов Д.А. // ФТТ. 2005. Т. 47. В. 6. С. 979--985
- Болховитянов Ю.Б., Пчеляков О.П., Чикичев С.И. // УФН. 2001. Т. 171. В. 7. С. 689--715
- Williams P.L., Mishin Y., Hamilton J.C. // Modelling Simul. Mater. Sci. Eng. 2006. V. 14. P. 817--833
- Коноваленко Ив.С., Зольников К.П., Псахье С.Г. // Изв. вузов. Физика. 2006. Т. 49. N 3. С. 38--39
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.