Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Влияние отжига во внешнем магнитном поле на микроструктуру и магнитные свойства пленок FePt
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
2Key Laboratory for Magnetism and Magnetic Materials of the Ministry of Education, Research Institute of Magnetic Materials, Lanzhou University, Lanzhou, China
3State Key Laboratory for Advanced Photonic Materials and Devices, Department of Optical Science and Engineering, Fudan University, Shanghai, China
4Казанский (Приволжский) федеральный университет, Казань, Россия
2Key Laboratory for Magnetism and Magnetic Materials of the Ministry of Education, Research Institute of Magnetic Materials, Lanzhou University, Lanzhou, China
3State Key Laboratory for Advanced Photonic Materials and Devices, Department of Optical Science and Engineering, Fudan University, Shanghai, China
4Казанский (Приволжский) федеральный университет, Казань, Россия
Email: kamzin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 4 октября 2011 г.
Выставление онлайн: 20 января 2012 г.
Исследовано влияние отжига во внешнем магнитном поле, приложенном перпендикулярно плоскости пленок, на микроструктуру и магнитные свойства многослойной структуры (MC) Si/Fe(2nm)/Fe50Pt50(20 nm)/Pt(2 nm), полученной методом радиочастотного магнетронного распыления. Установлено, что отжиг во внешнем магнитном поле приводит к образованию преимущественной текстуры (001) в МС FePt фазы L10. Таким образом, разработан метод получения МС на основе пленок FePt, требуемых для "перпендикулярной" магнитной записи.
- Iwasaki S., Nakamura Y. // IEEE Trans. Magn. 1977. MAG-13. N 5. P. 1272
- Abstracts of the Perpendicular Magnetic Recording Conference. 2010. Tokyo, Japan
- Weller D., Moser A., Folks L., Best M.E., Lee W., Toney M.F., Schwickert M., Thiele J.-U., Doerner M.F. // IEEE Trans. Magn. 2000. V. 36. P. 10
- Hsu Y.-N., Jeong S., Laughlin D.E., Lambeth D.N. // J. Appl. Phys. 2001. V. 89. P. 7068
- Trichy G.R., Chakraborti D., Narayan J., Prater J.T. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 92. P. 102504
- Nakagawa S., Kamiki T. // J. Magn. Magn. Mater. 2005. V. 287. P. 204
- Wu Y.-C., Wang L.-W., Lai C.-H. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 93. P. 242501
- Камзин А.С., Григорьев Л.А., Шерман А.Б., Бараш И.С. // Сверхпроводимость: Физика, химия, технология. 1993. Т. 6. С. 64
- Karanasos V., Panagiotopoulos I., Niarchos D., Okumura H., Hadjipanayis G.C. // Appl. Phys. Lett. 2001. V. 79. P. 1255
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
