Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Особенности электрических характеристик диодов Шоттки на основе CdTe с почти собственной проводимостью
1Черновицкий национальный университет, Черновцы, Украина 
2Институт физики полупроводников им. В.Е. Лашкарева Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
3Research Institute of Electronics, Shizuoka University, 3-5-1 Johoku, Naka-ku, Hamamatsu, Japan
4Aichi University of Technology, Gamagouri, Aichi 433, Japan
2Институт физики полупроводников им. В.Е. Лашкарева Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
3Research Institute of Electronics, Shizuoka University, 3-5-1 Johoku, Naka-ku, Hamamatsu, Japan
4Aichi University of Technology, Gamagouri, Aichi 433, Japan
Email: lakos@chv.ukrpack.net
Поступила в редакцию: 28 июня 2006 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2006 г.
Исследованы диоды Шоттки, полученные вакуумным напылением Al на CdTe со слабо выраженным p-типом проводимости (rho>109 Omega · cm при комнатных температурах). Диоды демонстрируют невыпрямляющую линейную вольт-амперную характеристику при напряжениях |V|<3-5 V и в то же время фото э.д.с., составляющую 0.28-0.3 V, что объясняется особенностями механизма переноса заряда, обусловленными большим сопротивлением объемной части диодной структуры. Понижение этого сопротивления при облучении фотонами с подходящим коэффициентом поглощения трансформирует вольт-амперную характеристику, которая становится типичной для полупроводникового диода. Результаты расчета в рамках теории Саа-Нойса-Шокли с учетом особенностей используемого материала согласуются с результатами эксперимента. PACS: 29.40.w, 07.85.F
- Takahashi T., Watanabe S. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 2001. V. 48. P. 950
- Watanabe S., Takahashi T., Okada Y., Sato G., Kouda M., Mitani T., Kobayashi Y., Nakazawa K., Kuroda Y., Onishi M. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 2002. V. 49
- Tanaka T., Kobayashi Y., Mitani T., Nakazawa K., Oonuki K., Sato G., Takahashi T., Watanabe S. // New Astronomy Reviews. 2004. V. 48. P. 309
- Косяченко Л.А., Маслянчук Е.Л., Склярчук В.М. // ФТП. 2005. Т. 39. С. 754
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
