Сверхпроводниковый смеситель на эффекте электронного разогрева как элемент матрицы системы построения тепловых изображений
Ожегов Р.В.1, Горшков К.Н.1, Окунев О.В.1, Гольцман Г.Н.1
1Московский педагогический государственный университет
Email: kostochkin@rblab.ru
Поступила в редакцию: 1 июня 2010 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2010 г.
Исследована возможность использования матрицы чувствительных элементов на гиперполусферической линзе диаметром 12 mm в тепловизоре терагерцевого диапазона частот. Получены размеры области на линзе, приемлемой для расположения матрицы, в которой шумовая температура приемника меняется в пределах 16% от средней. Диаметр этой области составил 3.3% диаметра линзы. Получены отклонения основного лепестка диаграммы направленности, которые составили ±1.25o от направления с оптимальным положением смесителя. Флуктуационная чувствительность приемника в эксперименте составила 0.5 K на частоте 300 GHz.
- Сайт проекта Hershel http://herschel.esac.esa.int/links.shtml
- Сайт проекта Миллиметрон http://www.asc.rssi.ru/millimetron
- Рябов В.А., Царев В.А., Цховребов А.М. // УФН. 2008. Т. 178. С. 1129
- Huguenin R.G. // Millivision Technologies. 2005
- Robertson D.A. // Joint 29th Int. Conf. on IR and MM Waves and 12th Int. Conf. on THz Electronics: Conference Didgest. Karlsruhe, 2004. P. 519-520
- Yujiri L., Shoucri M., Moffa P. // IEEE Microwave Magazine. 2003. V. 4. Issue 3. P. 39-50
- Сизов Ф.Ф. Фотоэлектроника для систем видения в "невидимых" участках спектра. Киев: Академпериодика, 2008
- Activ Terahertz Imaging for Security (TeraSec). H.-W. Hubers. SRC 07. Berlin, 27.03.2007
- Zimdars D., White J., Stuck G et al. // International J. High Speed Electronics and Systems. 2007. V. 17. N 2
- Gol'tsman G.N., Vachtomin Y.B., Antipov S.V. et al. // Proc. SPIE. 2005. V. 5727. P. 95-106.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук