Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Полевая эмиссионная микроскопия графена на иридиевом эмиттере
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Email: bernatskii@ms.ioffe.rssi.ru
Поступила в редакцию: 18 июля 2011 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2011 г.
Визуализирована полевая электронная эмиссия с поверхности иридиевого эмиттера, покрытого монослойной пленкой графена. Из анализа полученных изображений следует, что полевая электронная эмиссия происходит с мест смыкания графеновых островков, доходящих в размерах до нескольких десятков nm. Интеркалирование пленки графена атомами щелочного металла (цезия) снижает работу выхода поверхности и не приводит к изменению полевого электронного изображения. Полевые десорбционные изображения, полученные в полях, исключающих поверхностную диффузию цезия, обнаруживают наличие субмонослойной концентрации цезия на дефектах смыкания графеновых островков.
- Бернацкий Д.П., Павлов В.Г. // Изв. РАН. Сер. физ. 2009. Т. 73. N 5. С. 713--715
- Gall N.R., Rut'kov E.V., Tontegode A.Ya. // Int. J. Modern Phys. B. 1997. V. 11. P. 1865--1911
- Shmidt L.D., Gomer R. // J. Chem. Phys. 1965. V. 42. P. 3573
- Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я., Усуфов М.М. // ЖТФ. 1999. Т. 69. В. 9. С. 72--75
- Рутьков Е.В., Галль Н.Р. // ЖТФ. 2009. Т. 35. В. 16. С. 1--9
- Галль Н.Р., Лавровская Н.П., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я. // ЖТФ. Т. 74. В. 2. С. 105--109
- Ageev V.N., Bernatskii D.P., Kuznetsov Yu.A., Pavlov V.G., Potekhina N.D., Yakshinskii B.V. // Phys. Low-Dim. Struct. 1994. V. 7. P. 51
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
