Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2012, выпуск 21 » Статья стр. 22
<<<>>>
Исследование неавтономного состояния нанопленок иттербия, индуцированного хемосорбированными молекулами кислорода, с помощью фотоэлектронной спектроскопии
Бутурович Д.В.1, Кузьмин М.В.1, Митцев М.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: m.mittsev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 4 июня 2012 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2012 г.
PDF версия
С помощью фотоэлектронной спектроскопии высокого разрешения исследовано влияние хемосорбированных молекул кислорода на электронную структуру пленок иттербия нанометровой толщины. Показано, что при хемосорбции молекул O2 приповерхностные слои пленок иттербия переходят из двухвалентного состояния в трехвалентное. Произведена оценка глубины возмущения, вызываемого молекулами. Эти оценки показывают, что указанная глубина может иметь очень большие значения, достигающие 22 слоев пленки или 7.5 nm.
  1. Кузьмин М.В., Митцев М.А. // ФТТ. 2010. Т. 52. В. 3. С. 577--584
  2. Кузьмин М.В., Митцев М.А. // ФТТ. 2011. Т. 53. В. 3. С. 569--572
  3. Кузьмин М.В., Митцев М.А. // ФТТ. 2012. Т. 54. В. 2. С. 378--381
  4. Кузьмин М.В., Митцев М.А. // ФТТ. 2012. T. 54. В. 10. С. 1988--1992
  5. Johansson L.I., Allen J.W., Lindau I., Hecht M.N., Hagstrom S.B.M. // Phys. Rev. B. 1980. V. 21. N 4. P. 1408--1411
  6. Scmidt-May J., Gerken F., Nyholm R., Davis L.C. // Phys. Rev. B. 1984. V. 30. N 10. P. 5560--5565
  7. Meier R., Weschke E., Bievetski A., Scub ler-Langeheine C., Hu Z., Kaindl G. // Chem. Phys. Lett. 1998. V. 292. P. 507--514
  8. Danzenba S., Kuchernko Yu., Laubschat C., Vyalikh D.V., Hossain Z., Geibel C., Zhou X.J., Yang W.L., Mannella N., Hussain Z., Shen Z.-X., Molodtsov S.L. // Phys. Rev. Lett. 2006. V. 96. P. 106 402(1--4)
  9. Yeh J.J., Lindau I. // Atomic Data and Nuclear Data Tables. 1985. V. 32. N 1. P. 1--156
  10. Gerken F., Barth J., Kammerer R., Johansson L.I., Flodstrom A. // Surf. Sci. 1982. V. 117. N 2. P. 468--474
  11. Фельдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. М.: Мир, 1989. 342 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme