К вопросу об измерении теплофизических параметров объемных материалов фотодефлекционным методом
Муратиков К.Л., Глазов А.Л.
Поступила в редакцию: 14 июля 1995 г.
Выставление онлайн: 20 октября 1995 г.
- Tam A.C. Rev. Mod. Phys. 1986. V. 58. N 2. P. 381--431
- Fournier D., Forget B.C. J. de Physique. IV. 1991. V. 1. C6. P. 241--252
- Salazar A., Sanchez-Lavega A., Fernandez J. J. Appl. Phys. 1991. V. 70. N 6. P. 3031--3037
- Миргородский В.И., Новичихин Е.В., Носырев В.М. и др. ЖТФ. 1994. Т. 64. В. 2. С. 174--179
- Wong P.K., Fung P.C., Tam H.L. et al. Phys. Rev. B. 1995. V. 51. N 1. P. 523--533
- Suber G., Bertolotti M., Sibilia C. et al. J. Therm. Anal. 1987. V. 32. P. 1039--1050
- Rantala J., Jaarinen J., Kuo P.K. Appl. Phys. A. 1992. V. 55. P. 586--595
- Jackson W.B., Amer N.M., Boccara A.C. et al. Appl. Opt. 1981. V. 90. N 8. P. 1333--1344
- Aamodt L.C., Murphy J.C. J. Appl. Phys. 1981. V. 52. N 8. P. 4903--4914
- Glazov A., Muratikov K. Opt. Comm. 1991. V. 84. N 5--6. P. 283--389
- Глазов А.Л., Муратиков К.Л. ЖТФ. 1993. Т. 63. С. 160--165
- Glazov A., Muratikov K. J. Appl. Phys. 1994. V. 76. N 6. P. 3279--3284
- Machlab H., McGahan W.A., Woolam J.A. Thin Solid Films. 1992. V. 215. P. 103--107
- Toulukian Y.S., Powell R.W., Ho C.Y. et al. IFI/Plenum. N.Y., Washington, 1970. V. 10. 1208P
- Rosencweig A. Photoacoustics and Photoacoustic Spectroscopy Wiley, N.Y. 1980
- Кикоин И.К. Таблицы физических величин М.: Атомиздат, 1976. 1008 С.; \it Кухлинг Х. Справочник по физике М.: Мир, 1982. 520С
- Bertolotti M., Li Votu R., Liakhou G. et al. Rev. Sci. Instr. 1993. V. 64. P. 1576--1586
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук