Получение толстых пленок YBa2Cu3O7-x на сапфире с подслоем оксида церия
Гольман Е.К.1, Гольдрин В.И.1, Логинов В.Е.1, Плоткин Д.А.1, Разумов С.В.1, Тумаркин А.В.1
1Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет
Поступила в редакцию: 6 декабря 1996 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 1997 г.
В работе содержатся результаты экспериментов по получению пленок YBa2Cu3O7-x на Al2O3/CeO2 толщиной до 2.6 мкм с высоким структурным совершенством и электрофизическими параметрами.
- Vassenden F., Linker G., Geerk J. // Physica C. 1991. V. 175. P. 566--572
- Nieh C.W., Anthony L., Josefowicz J. et al. // Appl. Phys. Lett. 1990. V. 56. N 21. P. 2138--2140
- Sievers S., Mattheis F., Krebs H.U. et al. // J. Appl. Phys. 1995. V. 78. N 9. P. 5545--5548
- Carim A.H., Basu S.N., Muenchausen R.E. // Appl. Phys. Lett. 1991. V. 58. N 8. P. 871--873
- Tian Y.J., Guo L.P., Li L. et al. // Appl. Phys. Lett. 1994. V. 65. N 2. P. 234--236
- Гольман Е.К., Гольдрин В.И., Плоткин Д.А. и др. // ФТТ. 1997 (в печати)
- Hollmann E.K., Zaitsev A.G., Loginov V.E. et al. // J. Phys. D: Appl. Phys. 1993. V. 26. P. 504--505
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук