Толщина нарушенного слоя вдоль трека, созданного высокоэнергетическим ионом в полиимиде
Виленский А.И.1, Мчедлишвили Б.В.1, Клюев В.А.1, Топоров Ю.П.1
1Институт кристаллографии РАН, Москва Институт физической химии РАН, Москва
Поступила в редакцию: 3 сентября 1997 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 1997 г.
С помощью метода термостимулированной экзоэлектронной эмиссиии оценена толщина нарушенного слоя вдоль трека в полиимиде. Показано, что она составляет ~ 30 nm.
- Виленский А.И., Марков Н.Г., Олейников В.А. и др. // Химия высоких энергий. 1994. Т. 28. N 6. С. 507--510
- Кортов В.С., Слесарев А.И., Рогов В.В. Экзоэмиссионный контроль поверхности деталей после обработки. Киев: Наукова думка, 1986. 175 с
- Виленский А.И., Олейников В.А., Купцова И.В. и др. // Химия высоких энергий. 1994. Т. 28. N 4. С. 326
- Виленский А.И., Олейников В.А., Мчедлишвили Б.В. и др. // Химия высоких энергий. 1992. Т. 26. N 4. С. 12
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук