Применение поперечного наносекундного разряда в режиме допробойного ионизационного размножения электронов для селективного возбуждения атомов неона
Шуаибов А.К.1
1Ужгородский государственный университет
Поступила в редакцию: 3 июня 1997 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1997 г.
Проведено исследование характеристик поперечного наносекундного разряда в смесях Ne/SF6 и He/Ne/SF6, получаемого в режиме допробойного ионизационного размножения электронов. Изучены условия получения устойчивого поперечного разряда с искровой УФ предыонизацией, спектральные и временные характеристики излучения плазмы. Показана перспективность применения данного режима зажигания поперечного разряда для селективного возбуждения атомов неона, что может быть использовано при разработке электроразрядного плазменного лазера на lambda=585.3 nm Ne(3s-3p).
- Ломаев М.И., Панченко А.Н., Тарасенко В.Ф. // Квант. электрон. 1987. Т. 14. N 5. С. 992--995
- Батырбеков Г.А., Батырбеков Э.Г., Данилычев В.А., Назаров А.М. и др. // Квант. электрон. 1989. Т. 16. N 10. С. 2060--2062
- Ломаев М.И., Тарасенко В.Ф. // Письма в ЖТФ. 1988. Т. 14. В. 11. С. 1045--1048
- Ломаев М.И., Тарасенко В.Ф. // Квант. электрон. 1992. Т. 19. N 2. С. 146--150
- Латуш Е.Л., Сэм М.Ф., Чеботарев Г.Д. // Квант. электрон. 1990. Т. 17. N 11. С. 1418--1423
- Борисов В.Б., Егоров В.С., Киршин М.Н., Пастор А.А. и др. // Опт. и спектр. 1992. Т. 72. В. 5. С. 1064--1068
- Каслин В.М., Петраш Г.Г. // ЖПС. 1970. Т. 12. В. 3. С. 540--542
- Борисов В.М., Высикайло Ф.И., Христофоров О.Б. // Квант. электрон. 1985. Т. 12. N 6. С. 1311--1313
- Шуаибов А.К., Неймет Ю.Ю., Ходанич А.И., Шевера В.С. // Опт. и спектр. 1993. Т. 75. С. 713--716
- Канатенко М.А. // ЖТФ. Т. 64. В. 6. С. 198--201
- Спичкин Г.Л. // ЖТФ. 1986. Т. 56. В. 10. C. 1923--1932
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
